[实用新型]X射线束流强度监控装置和X射线检查系统有效
申请号: | 201420867215.9 | 申请日: | 2014-12-31 |
公开(公告)号: | CN204439843U | 公开(公告)日: | 2015-07-01 |
发明(设计)人: | 康克军;李树伟;张清军;李元景;李玉兰;赵自然;刘以农;刘耀红;朱维彬;赵晓琳;何会绍 | 申请(专利权)人: | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
主分类号: | G01T1/29 | 分类号: | G01T1/29;G01T1/202 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 刘志强 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 强度 监控 装置 检查 系统 | ||
1.一种X射线束流强度监控装置,其特征在于,包括强度探测模块和数据处理模块,所述强度探测模块用于接受X射线束流的照射并发出探测信号,所述数据处理模块与所述强度探测模块耦合以接收所述探测信号并输出X射线束流强度监控信号,其中,所述X射线束流强度监控信号包括所述X射线束流的剂量监控信号和所述X射线束流的亮度校正信号。
2.根据权利要求1所述的X射线束流强度监控装置,其特征在于,所述X射线束流强度监控装置包括多个所述强度探测模块,所述多个强度探测模块与同一个所述数据处理模块耦合。
3.根据权利要求2所述的X射线束流强度监控装置,其特征在于,各所述强度探测模块分别独立密封。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的X射线束流强度监控装置,其特征在于,所述数据处理模块包括积分放大器和信号转换装置,所述积分放大器与所述强度探测模块耦合以接收所述探测信号并输出电压信号,所述信号转换装置与所述积分放大器耦合以接收所述电压信号并输出所述剂量监控信号和所述亮度校正信号。
5.根据权利要求4所述的X射线束流强度监控装置,其特征在于,所述信号转换装置包括电压比较器和模数转换器,所述电压比较器与所述积分放大器耦合以接收所述电压信号并输出电平信号作为所述剂量监控信号,所述模数转换器与所述积分放大器耦合以接收所述电压信号并输出数字信号作为所述亮度校正信号。
6.根据权利要求1至3中任一项所述的X射线束流强度监控装置,其特征在于,所述强度探测模块为闪烁探测模块(5)或气体探测模块(6)。
7.根据权利要求6所述的X射线束流强度监控装置,其特征在于,所述强度探测模块为闪烁探测模块(5),所述闪烁探测模块(5)包括闪烁体(51)、光敏器件(52)和屏蔽层(53),所述闪烁体(51)的一端与所述光敏器件(52)耦合,所述屏蔽层(53)设置于所述光敏器件(52)外围。
8.一种X射线检查系统,包括X射线发射装置、探测器阵列(2)和X射线束流强度监控装置,其中,所述X射线束流强度监控装置为根据权利要求1至7中任一项所述的X射线束流强度监控装置。
9.根据权利要求8所述的X射线检查系统,其特征在于,所述X射线发射装置发出的X射线束流包括照射于所述探测器阵列(2)上的工作束流和照射于所述探测器阵列(2)之外的冗余束流,所述X射线束流强度监控装置的所述强度探测模块设置于所述X射线发射装置和所述探测器阵列(2)之间以接受所述冗余束流的照射并发出所述探测信号。
10.根据权利要求9所述的X射线检查系统,其特征在于,所述X射线检查系统还包括准直器(3),所述强度探测模块设置于所述X射线发射装置和所述准直器(3)之间。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学;同方威视技术股份有限公司,未经清华大学;同方威视技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201420867215.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。