[实用新型]一种老化测试装置有效
| 申请号： | 201420872896.8 | 申请日： | 2014-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN204330978U | 公开（公告）日： | 2015-05-13 |
| 发明（设计）人： | 陈全;邵懿;文俊;周廷兴 | 申请（专利权）人： | 澜起科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人： | 余明伟 |
| 地址： | 200233 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 老化 测试 装置 | ||
1.一种老化测试装置，其特征在于，所述老化测试装置包括多路分配器，所述多路分配器的输入端连接一个测试通道，所述多路分配器的输出端连接所述老化测试装置的老化板上的多个待测试芯片。
2.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于：所述多路分配器包括4路分配器、8路分配器、16路分配器、32路分配器、64路分配器中的任一种。
3.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于：所述多路分配器在100-125℃环境下工作正常。
4.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于：所述多路分配器的输出端连接的老化板为一个老化板。
5.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于：所述老化测试装置包括一个或多个老化板。
6.根据权利要求5所述的老化测试装置，其特征在于：所述多路分配器的输出端连接的老化板为位置相邻的多个老化板。
7.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于：所述多路分配器的输出端连接的多个待测试芯片位置相邻。
8.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于：所述待测试芯片使用的总线包括I2C总线或系统管理总线。
9.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于：所述多路分配器的输入端和输出端连接的是串行数据线。
10.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于：所述待测试芯片包括集成电路芯片。
11.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于：所述多路分配器通过地址信号选择输出端的待测试芯片。
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