[发明专利]一种用于温度传感器的纳米磁性多层膜及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201480000687.7 申请日: 2014-01-23
公开(公告)号: CN105122489B 公开(公告)日: 2017-10-13
发明(设计)人: 韩秀峰;袁忠辉;刘盼;于国强;丰家峰;张殿琳 申请(专利权)人: 中国科学院物理研究所
主分类号: H01L43/08 分类号: H01L43/08;H01L43/12;G01K7/16
代理公司: 北京市正见永申律师事务所11497 代理人: 黄小临,冯玉清
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 用于 温度传感器 纳米 磁性 多层 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种用于温度传感器的磁性多层膜,包括:

设置在基片上的底部复合磁性层,所述底部复合磁性层具有直接钉扎结构、间接钉扎结构、人工铁磁结构或人工反铁磁结构;

设置在所述底部复合磁性层上的势垒层;以及

设置在所述势垒层上的顶部复合磁性层,所述顶部复合磁性层具有所述直接钉扎结构、所述间接钉扎结构、所述人工铁磁结构或所述人工反铁磁结构,

其中,所述底部复合磁性层中的与所述势垒层最接近的铁磁层的磁矩反平行于所述顶部复合磁性层中的与所述势垒层最接近的铁磁层的磁矩。

2.如权利要求1所述的磁性多层膜,其中:

所述直接钉扎结构包括彼此接触的反铁磁层和铁磁层,

所述间接钉扎结构包括第一间接钉扎结构或第二间接钉扎结构,所述第一间接钉扎结构包括反铁磁层、与所述反铁磁层接触的非磁金属层、以及与所述非磁金属层接触的铁磁层,所述第二间接钉扎结构包括反铁磁层、与所述反铁磁层接触的第一铁磁层、与所述第一铁磁层接触的非磁金属层、以及与所述非磁金属层接触的第二铁磁层,

所述人工铁磁结构包括第一铁磁层、第二铁磁层、以及插置于所述第一铁磁层和所述第二铁磁层之间的非磁金属层,所述非磁金属层具有一厚度以诱导所述第一铁磁层和所述第二铁磁层之间的铁磁耦合,且

所述人工反铁磁结构包括第一铁磁层、第二铁磁层、以及插置于所述第一铁磁层和所述第二铁磁层之间的非磁金属层,所述非磁金属层具有一厚度以诱导所述第一铁磁层和所述第二铁磁层之间的反铁磁耦合。

3.如权利要求2所述的磁性多层膜,其中,所述底部复合磁性层和所述顶部复合磁性层都具有所述第二间接钉扎结构,所述底部复合磁性层的非磁金属层具有一厚度以诱导在其两侧的第一铁磁层和第二铁磁层形成铁磁耦合和反铁磁耦合中的一种,所述顶部复合磁性层的非磁金属层具有一厚度以诱导在其两侧的第一铁磁层和第二铁磁层形成铁磁耦合和反铁磁耦合中的另一种。

4.如权利要求2所述的磁性多层膜,其中,所述底部复合磁性层和所述顶部复合磁性层中的一个具有人工铁磁结构,并且所述底部复合磁性层和所述顶部复合磁性层中的另一个具有人工反铁磁结构。

5.如权利要求2所述的磁性多层膜,其中,所述底部复合磁性层和所述顶部复合磁性层中的一个具有人工铁磁结构,所述底部复合磁性层和所述顶部复合磁性层中的另一个具有第二间接钉扎结构,所述第二间接钉扎结构的非磁金属层具有一厚度以诱导其两侧的第一铁磁层和第二铁磁层形成反铁磁耦合。

6.如权利要求2所述的磁性多层膜,其中,所述底部复合磁性层和所述顶部复合磁性层中的一个具有人工反铁磁结构,所述底部复合磁性层和所述顶部复合磁性层中的另一个具有第二间接钉扎结构,所述第二间接钉扎结构的非磁金属层具有一厚度以诱导其两侧的第一铁磁层和第二铁磁层形成铁磁耦合。

7.如权利要求2所述的磁性多层膜,其中,所述底部复合磁性层和所述顶部复合磁性层中的一个具有直接钉扎结构,所述底部复合磁性层和所述顶部复合磁性层中的另一个具有人工反铁磁结构或第二间接钉扎结构,所述第二间接钉扎结构的非磁金属层具有一厚度以诱导其两侧的第一铁磁层和第二铁磁层形成反铁磁耦合。

8.如权利要求2所述的磁性多层膜,其中,所述底部复合磁性层具有直接钉扎结构或间接钉扎结构,所述顶部复合磁性层具有直接钉扎结构或间接钉扎结构,所述底部复合磁性层的反铁磁层的阻塞温度不同于所述顶部复合磁性层的反铁磁层的阻塞温度。

9.如权利要求2所述的磁性多层膜,其中,所述底部复合磁性层具有人工铁磁结构或人工反铁磁结构,所述顶部复合磁性层具有人工铁磁结构或人工反铁磁结构,所述底部复合磁性层的离所述势垒层较远的铁磁层的矫顽力不同于所述顶部复合磁性层的离所述势垒层较远的铁磁层的矫顽力。

10.如权利要求9所述的磁性多层膜,其中,所述底部复合磁性层和所述顶部复合磁性层二者都具有垂直磁矩。

11.如权利要求9所述的磁性多层膜,其中,所述底部复合磁性层的离所述势垒层较远的铁磁层和所述顶部复合磁性层的离所述势垒层较远的铁磁层每个都包括具有垂直磁矩的磁性多层结构。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院物理研究所,未经中国科学院物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201480000687.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code