[发明专利]液体中的元素分析装置

说明书

技术领域

本公开涉及在液体中通过使等离子体产生而对存在于液体中的元素进行分析的装置。

背景技术

作为以往的利用了等离子体的液体中的元素分析装置有专利文献1～3所述的装置。任一文献中都公开了使等离子体起作用并产生来检测液体中的元素引起的发光并进行元素分析的方法。

在以往的等离子体产生装置中，在已被精细加工的流路、更具体的是在由绝缘性材料形成的流路上设置具有明显比该流路的横截面积还小的横截面积的窄小部(例如参照专利文献1。)。该装置通过向流路中施加电场而使等离子体产生。再有，在以往的装置中通过进行所谓的水上放电而使等离子体产生(例如参照专利文献2。)。还有，在以往的装置中通过照射激光而使等离子体产生(例如参照专利文献3。)。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：WO2005/093394号公报

专利文献2：JP特开平9-26394号公报

专利文献3：JP特开2002-372495号公报

发明内容

-发明要解决的课题-

然而，上述专利文献1的装置因为利用特殊加工过的单元(cell)使等离子体产生，所以具有需要另外准备特殊的单元的课题。再有，在专利文献1中，公开了：尤其对于导电率低的溶液来说，为了产生等离子体优选对溶液的导电率进行调整的主旨。该文献所述的装置，具有即便对溶液的导电率进行调整，测量准备也繁杂的课题。在专利文献2所述的测量装置中，通过进行水上放电，从而可以比较简单地使等离子体产生。可是，等离子体主要在大气中发光。为此，由于与液体的相互作用被限定在等离子体接触部，故等离子体发光比较小。由此，专利文献2所述的测量装置具有难以获得元素分析所需的灵敏度的课题。专利文献3所述的分析装置具有为了产生等离子体而另外需要器、导致装置结构变得复杂的课题。

因而，本公开解决所述以往的课题，其目的在于提供一种能够以简单的结构进行高灵敏度的元素分析的液体中的元素分析装置。

-用于解决课题的手段-

作为本公开的一形态的元素分析装置，具备：

第1电极，其至少一部分被配置于装入液体的处理槽内；

第2电极，其至少一部分被配置于所述处理槽内；

绝缘体，其是形成于所述第1电极的周围的绝缘体，且具有被设置成使所述第1电极的一部分露出的开口部；

电源，其向所述第1电极与所述第2电极之间施加电压；和

光检测装置，其检测通过所述电源施加电压而在所述开口部附近进行放电所产生的等离子体的发光光谱，

根据所述光检测装置检测出的发光光谱来分析所述液体所包含的元素。

-发明效果-

根据本公开涉及的元素分析装置，能以简单的结构进行高灵敏度的元素分析。

附图说明

图1是本公开的实施方式1涉及的元素分析装置的整体构成图。

图2是表示本公开的实施方式1中的绝缘体的开口部的图。

图3是表示本公开的实施方式1中的开口部的直径与放电的稳定性的关系的图。

图4是在导电率约为50mS/m时对实施例1与比较例1的发光光谱进行了比较的图。

图5是在导电率0～300mS/m时对实施例1与比较例1的Na/H进行了比较的图。

图6是在市售的矿泉水中对实施例2与比较例2的发光光谱进行了比较的图。

图7是本公开的实施方式2涉及的元素分析装置的整体构成图。

图8是表示本公开的实施方式2涉及的元素分析装置的使用例的图。

图9是本公开的实施方式2涉及的元素分析装置的变形例的整体构成图。

图10是表示本公开的实施方式2涉及的元素分析装置的其他变形例的整体构成图。

图11是参考例的元素分析装置的整体构成图。

具体实施方式

本公开的第1形态涉及的元素分析装置，具备：

第1电极，其至少一部分被配置于装入液体的处理槽内；

第2电极，其至少一部分被配置于所述处理槽内；

绝缘体，其是形成于所述第1电极的周围的绝缘体，且具有被设置成使所述第1电极的一部分露出的开口部；

电源，其向所述第1电极与所述第2电极之间施加电压；和

光检测装置，其检测通过所述电源施加电压而在所述开口部附近进行放电所产生的等离子体的发光光谱，

根据所述光检测装置检测出的发光光谱分析所述液体所包含的元素。