[发明专利]二维及三维气体温度分布测量方法在审
申请号: | 201480002681.3 | 申请日: | 2014-10-06 |
公开(公告)号: | CN104755893A | 公开(公告)日: | 2015-07-01 |
发明(设计)人: | 李昌烨;金世元 | 申请(专利权)人: | 韩国生产技术研究院 |
主分类号: | G01K11/32 | 分类号: | G01K11/32;G01J5/10 |
代理公司: | 北京中恒高博知识产权代理有限公司 11249 | 代理人: | 夏晏平 |
地址: | 韩国忠清*** | 国省代码: | 韩国;KR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 二维 三维 气体 温度 分布 测量方法 | ||
1.一种二维气体温度分布测量方法,其特征在于,包含:
(a)由控制部对测量对象空间进行二维分割,使得二维分割的空间具有n2个相互等面积的分割步骤;
(b)所述分割的测量对象空间中,在位于发光侧最外围的分割空间(A1,A4,A7)的发光点向位于收光测最外围的分割空间(A3,A6,A9)的收光点以1∶n对应发出激光,在收光部检测吸收信号的步骤;
(c)根据所述收光部检测的吸收信号,由控制部以直接吸收光谱技术演算n2个吸光度面积的步骤;
(d)根据所述演算的吸光度面积,由控制部按分割的测量对象空间的区间,从下面的函数式,
(Asi:按光透射路径的吸光度面积,P:在测量对象空间内的压力,Xabs:摩尔分数)
演算激光的n2个第1线强度变化(ai=S1(Ti)Xi)的步骤;以及
(e)根据所述第1线强度变化(ai=S1(Ti)Xi),和执行(a)步骤到(d)步骤而演算处理的不同波长频带的第2线强度变化(bi=S2(Ti)Xi),由控制部按所述分割的测量对象空间的区间,从下面的函数式,
S1(Ti)/S2(Ti)=ai/bi
计算温度,并映射(mapping)成所述测量对象空间的二维温度分布的步骤。
2.根据权利要求1所述的二维气体温度分布测量方法,其特征在于,还包含:
(f)根据所述映射的二维温度分布,由控制部按所述分割的测量对象空间的区间,计算测量对象气体的摩尔分数(mole fraction),并映射成二维浓度分布的步骤。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于韩国生产技术研究院,未经韩国生产技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201480002681.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:微粒分取装置和分取微粒的方法
- 下一篇:便携式电子设备