[发明专利]热辅助磁记录头、半导体激光元件以及半导体激光元件的制造方法有效
申请号: | 201480003463.1 | 申请日: | 2014-09-02 |
公开(公告)号: | CN104854765B | 公开(公告)日: | 2018-12-07 |
发明(设计)人: | 川上俊之;有吉章 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | H01S5/02 | 分类号: | H01S5/02;G11B5/02;G11B5/31 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 吴秋明 |
地址: | 日本国大阪府大阪*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 辅助 记录 半导体 激光 元件 以及 制造 方法 | ||
1.一种半导体激光元件,其特征在于,具备:
基板,其由半导体构成;
发光部,其具有以所述基板为基底通过外延生长而依次层叠第1导电型半导体层、活性层和第2导电型半导体层的半导体层叠膜,并且由所述活性层形成条带状的光波导;
环状的保护壁,其与所述发光部相邻且由所述半导体层叠膜形成,并且包围以所述基板或第1导电型半导体层为底面的凹部;
第1电极,其配置在所述凹部的底面上;和
第2电极,其配置在所述发光部的上表面,
所述保护壁在与垂直于所述光波导的方向平行的方向具有保护壁,
所述保护壁在周向的多个位置被槽部分断。
2.根据权利要求1所述的半导体激光元件,其特征在于,
所述发光部和所述保护壁被以所述基板或第1导电型半导体层为底面的分离槽进行分离。
3.根据权利要求1或2所述的半导体激光元件,其特征在于,
所述保护壁在面向所述发光部的一方敞开。
4.一种热辅助磁记录头,其特征在于,具备:
权利要求1~3中任一项所述的半导体激光元件;和
进行磁记录的浮动块,
将所述基板的与所述光波导正交的端面粘结于所述浮动块。
5.一种半导体激光元件的制造方法,其特征在于,具备:
半导体层叠膜形成工序,在由半导体构成的基板上形成依次层叠第1导电型半导体层、活性层和第2导电型半导体层的半导体层叠膜;
脊部形成工序,对第2导电型半导体层进行蚀刻而形成条带状的脊部;
凹部形成工序,蚀刻与所述脊部相邻的区域直到比所述活性层更靠下层为止,从而形成由保护壁包围的凹部;
第1金属膜形成工序,在所述凹部的底面上层叠第1金属膜;和
第2金属膜形成工序,在第1金属膜上以及所述脊部上层叠第2金属膜,
由第1金属膜以及第2金属膜在所述凹部的底面上形成第1电极,并且由第2金属膜在所述脊部上形成第2电极,
所述保护壁在与垂直于所述脊部的方向平行的方向形成保护壁,
所述保护壁在周向的多个位置被槽部分断。
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