[发明专利]使用超声检查识别、分组和尺寸确定转子组件中的埋藏缺陷的系统和方法在审
| 申请号： | 201480005030.X | 申请日： | 2014-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN105122052A | 公开（公告）日： | 2015-12-02 |
| 发明（设计）人： | 关雪飞;张竞丹;周少华;E.M.拉塞尔科德;W.A.阿巴西;S.H.拉德凯;C-S.李;A.L.刘易斯 | 申请（专利权）人： | 西门子公司;西门子能量股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N29/06 | 分类号： | G01N29/06;G06T17/00;G01N29/44 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 李晓舒 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 使用 超声 检查 识别 分组 尺寸 确定 转子 组件 中的 埋藏 缺陷 系统 方法 | ||
1.一种用于转子的超声检查的方法，其包括：
提供多个转子切片的超声数据；
提供所述超声数据的体积重建；
基于所述体积重建提供所述转子中的缺陷指示的切片内识别、分组和尺寸确定；
基于所述切片内缺陷指示提供所述缺陷指示的切片间识别、分组和尺寸确定；以及
提供缺陷位置和尺寸信息。
2.根据权利要求1所述的方法，其中所述超声数据经由相控阵列超声探头获得。
3.根据权利要求1所述的方法，其中使用预定阈值定位所述体积重建中的数据点。
4.根据权利要求3所述的方法，其中具有大于所述预定阈值的强度的所述体积重建的部分均被识别为命中点。
5.根据权利要求3所述的方法，其还包括识别所述体积重建中的感兴趣的区域。
6.根据权利要求3所述的方法，其中所述预定阈值为大约40%。
7.根据权利要求1所述的方法，其中提供缺陷指示的切片内识别、分组和尺寸确定的步骤包括生成缺陷簇。
8.根据权利要求1所述的方法，其中提供缺陷指示的切片内识别、分组和尺寸确定的步骤的缺陷面积由下式给出：
其中d1是缺陷的等效反射尺寸。
9.根据权利要求1所述的方法，其中提供缺陷指示的切片间识别、分组和尺寸确定的步骤包括根据预定形状分组离散缺陷簇。
10.根据权利要求9所述的方法，其中所述预定形状包括直线分组包络。
11.根据权利要求1所述的方法，其中提供缺陷指示的切片间识别、分组和尺寸确定的步骤的缺陷面积由下式给出：
Sf＝(MaxR-MinR)(MaxZ-MinZ)
其中(MaxR-MinR)是切片间分组的径向范围并且(MaxZ-MinZ)是切片间分组的轴向范围。
12.一种用于转子的超声检查的方法，其包括：
扫描转子的切片以提供超声数据，其中所述切片垂直于转子轴线；
提供所述超声数据的体积重建；
基于所述体积重建提供所述转子中的缺陷指示的切片内识别、分组和尺寸确定；
基于所述切片内缺陷指示提供所述缺陷指示的切片间识别、分组和尺寸确定；以及
提供缺陷位置和尺寸信息。
13.根据权利要求12所述的方法，其中使用预定阈值定位所述体积重建中的数据点。
14.根据权利要求13所述的方法，其中具有大于所述预定阈值的强度的所述体积重建的部分均被识别为命中点。
15.根据权利要求12所述的方法，其中提供缺陷指示的切片内识别、分组和尺寸确定的步骤包括生成缺陷簇。
16.根据权利要求12所述的方法，其中提供缺陷指示的切片内识别、分组和尺寸确定的步骤的缺陷面积由下式给出：
其中d1是缺陷的等效反射尺寸。
17.根据权利要求12所述的方法，其中提供缺陷指示的切片间识别、分组和尺寸确定的步骤包括根据预定形状分组离散缺陷簇。
18.根据权利要求17所述的方法，其中所述预定形状包括直线分组包络。
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