[发明专利]用于借助计算机层析X射线摄影术确定结构的几何形状的方法和设备

权利要求书

1.用于至少使用计算机层析X射线摄影术传感装置来确定物体上的结构的几何形状的方法，所述计算机层析X射线摄影术传感装置至少由辐射源、机械旋转轴和面探测器组成，其中通过所述计算机层析X射线摄影术传感装置在材料过渡的区域中生成表面测量点，

其特征在于，

为了确定几何形状特征，在没有事先存在的CAD模型的情况下执行如下步骤：

1）选择表面测量点，所述表面测量点基于可预先给定的规则通过考虑额定几何形状被分配给要确定的几何形状特征，

其中所述特征的额定几何形状通过测量标准部件或借助至少一个参数集或借助手动地至少粗略地由操作者确定的几何元素来确定，以及其中所述额定几何形状由从一个由直线、直线片段、圆、圆片段、球、球片段、圆柱、圆柱片段、圆锥、圆锥片段、环面、环面片段组成的集合中选择的一个或多个几何元素组成，

其中通过所述几何元素定义所述额定几何形状的至少一个CAD元素，以及

2）从在步骤1）中所选择的表面测量点确定所述结构的几何形状特征。

2.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

所述额定几何形状通过被考虑用于确定的测量点或从所述参数集提取的点的最佳拟合调整来确定。

3.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

使用表面测量点，所述表面测量点位于到额定几何形状的最大可预先给定的间距A之内，且A≤100μm。

4.根据权利要求1或2所述的方法，

其特征在于，

在考虑额定几何形状的表面向量的情况下进行为了确定几何形状特征要使用的表面测量点的选择。

5.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

一个或多个关于物体的对称轴相互倾斜地位于空间中的特征被测量。

6.根据权利要求5所述的方法，

其特征在于，

至少仰角和方位角或空间中的地点和直径或直径变化和/或粗糙度被确定。

7.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

利用计算机层析X射线摄影术传感装置或至少一个另外的触觉的或光学的或触觉光学的传感器来测量喷油嘴的一个或多个喷射孔。

8.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

所述特征的额定尺寸和/或额定几何形状通过测量标准部件来确定或校准。

9.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

所述额定几何形状通过至少一个参数集来确定，所述参数集由三个空间坐标（x、y、z）或至少一个角位置（phi，theta）或轴位置（dx，dy，dz）或平面（x，y，z，dx，dy，dz）或其他在空间中定义的并且在其延展上限制的几何元素组成。

10.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

为了确定额定几何形状要使用的几何元素手动地至少粗略地由操作者来定义并且随后通过计算机程序借助以下的步骤进行更准确的确定：

－使用粗略确定的几何元素进行表面点的暂时选择

－从所选择的表面点计算几何补偿元素，其中所述补偿元素的类型对应于手动确定的几何元素的类型

－将手动的几何元素适配于所述几何补偿元素

－使用所适配的手动的几何元素进行表面点的最终选择。

11.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

从另外的传感器的测量点计算几何元素，所述另外的传感器的测量点通过将所述另外的传感器与计算机层析X射线摄影术传感装置对齐或校准而存在于共同的坐标系中。