[发明专利]提高γ辐射灵敏度的离子室壳材料有效

专利信息
申请号: 201480006054.7 申请日: 2014-01-13
公开(公告)号: CN104937692B 公开(公告)日: 2018-01-19
发明(设计)人: E.J.鲍斯;K.S.麦金尼 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: H01J47/00 分类号: H01J47/00;H01J47/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 严志军,谭祐祥
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 提高 辐射 灵敏度 离子 材料
【权利要求书】:

1.一种γ辐射探测组件,包括:

具有阴极和阳极的电离室,并且所述电离室探测进入所述电离室的辐射;以及

外壳,所述外壳限定所述电离室包围在其内的中空内部容积,所述外壳包括至少两层,所述层中的至少一个向所述中空内部容积和包围在其中的所述电离室提供电磁屏蔽;

所述电离室与所述外壳的所述屏蔽层间隔开一距离,其中,在电离室和屏蔽层之间的空间内具有空气;

其中,外壳以及电离室和屏蔽层之间的空间具有相对较低的区域密度以减小对于γ辐射的阻挡。

2.根据权利要求1所述的辐射探测组件,其特征在于,提供电磁屏蔽的所述层中的所述至少一个为屏蔽层,并且所述屏蔽层在所述外壳的内部。

3.根据权利要求2所述的辐射探测组件,其特征在于,开放空隙存在于所述电离室与所述外壳内的所述外壳的所述屏蔽层之间,并且所述开放空隙包括所述电离室与所述屏蔽层之间的体积。

4.根据权利要求1所述的辐射探测组件,其特征在于,所述屏蔽层包括导电材料。

5.根据权利要求4所述的辐射探测组件,其特征在于,所述屏蔽层包括镍材料。

6.根据权利要求1所述的辐射探测组件,其特征在于,所述外壳的至少一层包括非传导材料。

7.根据权利要求6所述的辐射探测组件,其特征在于,所述外壳的非传导材料的所述至少一层在所述外壳的外部上。

8.根据权利要求6所述的辐射探测组件,其特征在于,所述非传导材料包括聚碳酸酯材料。

9.根据权利要求6所述的辐射探测组件,其特征在于,所述非传导材料使所述外壳的外部与所述中空内部容积和包围在其中的所述电离室电隔离。

10.根据权利要求6所述的辐射探测组件,其特征在于,所述屏蔽层包括位于所述至少一层非传导材料的内部上的导电材料。

11.根据权利要求10所述的辐射探测组件,其特征在于,所述导电材料相比于所述至少一层非传导材料为薄的。

12.根据权利要求11所述的辐射探测组件,其特征在于,所述导电材料包括镍材料。

13.根据权利要求11所述的辐射探测组件,其特征在于,所述导电材料具有小于0.2厘米的厚度。

14.根据权利要求1所述的辐射探测组件,其特征在于,所述电离室与所述外壳的外部之间的物质密度小于0.7克/cm2

15.根据权利要求14所述的辐射探测组件,其特征在于,提供电磁屏蔽的所述层中的所述至少一个的密度为0.099克/cm2,并且所述外壳的另一层的密度为0.57克/cm2

16.根据权利要求1所述的辐射探测组件,其特征在于,所述电离室由保持所述电离室离所述外壳一距离的第一支承件和第二支承件支承。

17.根据权利要求16所述的辐射探测组件,其特征在于,所述电离室并未由将包绕所述电离室的回弹性泡沫支承。

18.根据权利要求16所述的辐射探测组件,其特征在于,所述电离室的表面并未在所述第一支承件与所述第二支承件之间接触。

19.根据权利要求16所述的辐射探测组件,其特征在于,所述第一支承件和所述第二支承件防止所述电离室的移动和所述电离室与所述外壳之间的接触。

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