[发明专利]气体阻挡性评价装置及评价方法

说明书

技术领域

本发明涉及膜的气体阻挡性评价装置和气体阻挡性评价方法。

背景技术

近年来，在有机电子学领域和食品包装领域，迄今为止，一直在寻求水蒸气透过性和透氧性低，即气体阻挡性高的膜和密封材料等材料。为了该材料的研发和产品出厂前的检查，需要气体阻挡性的高灵敏度评价技术。

膜状试样的气体阻挡性评价方法大致分为等压法和差压法。等压法是向试样的一侧表面(以下称为供给侧)导入含有评价气体的气体、向另一侧表面(以下称为透过侧)导入氮气等载气，用由红外线传感器等构成的检测部测定排出的载气中含有的透过的评价气体的浓度的方法(非专利文献1，非专利文献2)。公开了用于进行高灵敏度评价的使用晶体振子水分计和质量分析装置的方法、和将透过侧暂时封闭而使透过的评价气体浓缩后导入检测部的方式(专利文献1，专利文献2)。

差压法是用真空泵将透过侧减压后暂时关闭阀门，使其与外界隔离，向供给侧导入含有评价气体的气体后，用压力计等构成的检测部测定伴随气体透过的透过侧的压力上升的方法(非专利文献3)。还公开了用于评价阻挡性高的膜的水蒸气阻挡性的使用质量分析装置的方法(专利文献3，专利文献4，专利文献5)。在差压法中，必须抵抗供给侧和透过侧的压力差而支撑试样，公开了使用多孔不锈钢基材(专利文献3，专利文献5)、高分子体、透水性玻璃(专利文献4)等。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:国际公开号WO2009/041632号

专利文献2:日本特开2010-190751号公报

专利文献3:日本特开平6-241978号公报

专利文献4:日本特开2002-357533号公报

专利文献5:日本特开2005-17172号公报

非专利文献1:JIS K7126-1987(B法)

非专利文献2:JIS K7126-1992

非专利文献3:JIS K7126-1987(A法)

发明内容

发明要解决的课题

等压法必须按ppb级分析大量的载气中的评价对象成分，但该级别的高灵敏度气体分析技术受到局限。并且自导入评价装置前载气中就含有水蒸气和氧等杂质，因此这会造成评价灵敏度的限度。

差压法需要支撑体，进行评价的试样沿着支撑体表面的凹凸产生变形，其结果，有可能损害气体阻挡性。

不论哪种方法，在向装置中安装试样时都会将大气卷入进装置内，要消除其影响(特别是水蒸气)，需要经过数日到数周的漫长时间。这在材料开发和出库前检查中成为大的障碍。

本发明涉及提供一种良好地保持透过侧腔室内的环境并且可以进行试样更换的气体阻挡性评价装置及评价方法。

解决课题的手段

本发明提供一种气体阻挡性评价装置，其具备支撑试样且含有高分子的支撑体、透过侧腔室和检测部，该支撑体与透过侧腔室的开口部结合，且该支撑体中含有的高分子的玻璃化转变温度为100℃以上。

本发明提供一种气体阻挡性评价方法，其具备支撑试样且含有高分子的支撑体、透过侧腔室和检测部，该支撑体与透过侧腔室的开口部结合，且该支撑体中含有的高分子的玻璃化转变温度为100℃以上，在安装试样前，将透过侧腔室加热至100℃以上。

发明效果

根据本发明，良好地保持透过侧腔室内的环境并且可以进行试样更换。其结果，得到以下各种效果。

(1)可以在安装试样后迅速评价气体阻挡性。

(2)装置的操作和结构简单。

(3)可以容易地使用高灵敏度的检测部。

而且，由于可使用致密且没有凹凸的平滑的支撑体，因此得到以下效果。

(4)不必担心试样变形而损害气体阻挡性。

(5)试样可以以接近实际使用的有机电子学的结构进行气体阻挡性评价。

(6)通过改变供给侧和透过侧的压力，可以缩短评价时间，提高评价灵敏度。

进而，通过采用使用压力计或质量分析装置的方法，不需要载气，还可以同时解决等压法和差压法的缺点。

本发明的上述及其它的特征和优点可从下述的记载和附图中明了。

附图说明

图1是示意性地表示作为本发明的气体阻挡性评价装置的优选的一实施方式的第一实施方式的剖面图。

图2是示意性地表示本发明的气体阻挡性评价装置的第二实施方式的剖面图，是表示试样安装前的状态的图。