[发明专利]使用基于环式振荡器的物理不可克隆函数及老化检测电路的集成电路识别及可靠度验证

权利要求书

1.一种集成电路，其包括：

经配置以部分地实施物理不可克隆函数PUF的第一多个环式振荡器(318)；

经配置以部分地实施老化传感器电路的第二多个环式振荡器(320)；及

耦接到所述第一多个环式振荡器(318)及所述第二多个环式振荡器(320)的环式振荡器选择电路(312)，所述环式振荡器选择电路(312)经调适以选择来自所述第一多个环式振荡器(318)及/或所述第二多个环式振荡器(320)中的至少一者的至少两个环式振荡器输出(324a、324b)，其中所述环式振荡器选择电路(312)由所述PUF及所述老化传感器电路共享。

2.根据权利要求1所述的集成电路，其进一步包括：

经调适以接收并比较所述两个环式振荡器输出且产生输出信号(326)的输出函数电路(314)。

3.根据权利要求1所述的集成电路，其中所述第一多个环式振荡器(318)及所述第二多个环式振荡器(320)包含至少一共享环式振荡器。

4.根据权利要求1所述的集成电路，其中所述选择电路(312)包含接收来自所述第一多个环式振荡器(318)及所述第二多个环式振荡器(320)的输出的两个或两个以上选择开关(512、514)，所述选择开关(512、514)选择所述至少两个环式振荡器输出(324a、324b)。

5.根据权利要求1所述的集成电路，其中所述选择电路(312)响应于由处理电路(304)接收的质询(328)而选择所述至少两个环式振荡器输出(324a、324b)。

6.根据权利要求5所述的集成电路，其中所述选择电路(312)响应于所述质询(328)而将所述至少两个环式振荡器输出(324a、324b)提供至所述处理电路(304)。

7.根据权利要求1所述的集成电路，其中所述第一多个环式振荡器(318)通过以下操作来实施所述物理不可克隆函数：

选择性地启用所述第一多个环式振荡器(318)中的至少两个环式振荡器，其中由所述第一多个环式振荡器(318)间的制造变化引起的频率变化产生唯一识别符。

8.根据权利要求7所述的集成电路，其中选择性地启用的所述两个环式振荡器彼此分开至少十(10)μm而定位。

9.根据权利要求1所述的集成电路，其中所述第二多个环式振荡器(320)通过以下操作来实施所述老化传感器电路：

使所述第二多个环式振荡器中的第一环式振荡器连续地运行；

使所述第二多个环式振荡器中的第二环式振荡器维持闲置，除非老化检测经确定；及

通过执行所述第一环式振荡器与所述第二环式振荡器之间的差分频率测量来确定电路老化信息。

10.根据权利要求9所述的集成电路，其中所述第二多个环式振荡器(320)的所述第一环式振荡器及所述第二环式振荡器彼此间的距离不超过十(10)μm。

11.根据权利要求9所述的集成电路，其中所述第二多个环式振荡器(320)的连续运行的环式振荡器及闲置环式振荡器的数个对是跨所述集成电路的各种部分而分散，以产生所述集成电路的部分的局部电路可靠性信息，所述连续运行的环式振荡器及闲置环式振荡器的所述数个对定位于所述集成电路的所述部分。