[发明专利]用于确定介质中的荧光物质浓度的方法和设备

权利要求书

1.一种用于确定介质中的荧光物质的浓度(c)的方法，其中将具有激发波长(λ_ex)的激发辐射辐射通过具有荧光物质的介质，使荧光物质以这样的方式激发，使得荧光物质发射具有荧光波长(λ_em)的荧光辐射，其中对荧光辐射的强度(I_fluor)进行测量，介质中的荧光物质的浓度(c)根据荧光辐射的强度确定，所述方法的特征在于，另外对激发辐射的透射部分的强度(I_trans,ex)进行测量，其中荧光物质的浓度(c)根据激发辐射的透射部分的强度(I_trans,ex)以及荧光辐射的强度(I_fluor)确定；

其中，另外将具有荧光波长(λ_em)的荧光吸收辐射辐射通过具有荧光物质的介质，对荧光吸收辐射的透射部分的强度(I_trans,em)进行测量，而根据激发辐射的透射部分的强度(I_trans,ex)、荧光辐射的强度(I_fluor)以及荧光吸收辐射的透射部分的强度(I_trans,em)来确定荧光物质的浓度(c)；

其中，对荧光辐射的强度(I_fluor)和对激发辐射的透射部分的强度(I_trans,ex)在具有荧光物质的介质的相同的体积单元处同时进行测量；以及

其中，对荧光辐射的强度(I_fluor)和对荧光吸收辐射的透射部分的强度(I_trans,em)在相同的传感器上进行测量。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对具有激发波长(λ_ex)的散射光的强度(I_streu,ex)也进行测量，而荧光物质的浓度(c)根据激发辐射的透射部分的强度(I_trans,ex)、荧光辐射的强度(I_fluor)和散射光的强度(I_streu,ex)以及在荧光吸收辐射的透射部分的强度可用时的荧光吸收辐射的透射部分的强度(I_trans,em)确定。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，荧光物质的浓度(c)根据特征曲线的组确定，所述特征曲线的组指示依据激发辐射的透射部分的强度(I_trans,ex)、荧光辐射的强度(I_fluor)以及在荧光吸收辐射的透射部分的强度可用时的荧光吸收辐射的透射部分的强度(I_trans,em)和/或在散射光的强度可用时的散射光的强度(I_streu,ex)的荧光物质的浓度(c)。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述特征曲线的组还指示依据介质的pH值和/或温度的荧光物质的浓度(c)。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述特征曲线的组是通过在确定荧光物质的浓度(c)之前进行的测量方法确定的，在所述测量方法中，对于若干给定的荧光物质的校准浓度(c1-c3)中的每一个，对荧光辐射的强度(I_fluor)、激发辐射的透射部分的强度(I_trans,ex)以及在荧光吸收辐射的透射部分的强度可用时的荧光吸收辐射的透射部分的强度(I_trans,em)和/或在散射光的强度可用时的散射光的强度(I_streu,ex)进行测量。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在测量激发辐射的透射部分的强度(I_trans,ex)之前，使激发辐射的透射部分在穿过具有荧光物质的介质之后重新定向。