[发明专利]成像元件及电子设备有效
申请号: | 201480010575.X | 申请日: | 2014-02-27 |
公开(公告)号: | CN105103537B | 公开(公告)日: | 2018-11-06 |
发明(设计)人: | 太田英史 | 申请(专利权)人: | 株式会社尼康 |
主分类号: | H04N5/369 | 分类号: | H04N5/369;H01L27/146 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 陈伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 成像 元件 电子设备 | ||
1.一种电子设备,其特征在于,具有:
成像元件,该成像元件具有第1成像区域和第2成像区域,其中该第1成像区域经由光学系统以第1成像条件对被摄物体进行成像并生成所述光学系统的焦点检测中使用的检测信号,该第2成像区域以与所述第1成像条件不同的第2成像条件对被摄物体进行成像并生成图像信号;
设定部,其在所述成像元件中,设定所述第1成像区域的配置位置和所述第2成像区域的配置位置;以及
抽取部,其在所述成像元件中抽出供来自特定的被摄物体的光入射的特定区域,
所述设定部在由所述抽取部抽出的所述特定区域中设定所述第1成像区域和所述第2成像区域。
2.一种电子设备,其特征在于,具有:
成像元件,该成像元件具有第1成像区域和第2成像区域,其中该第1成像区域经由光学系统以第1成像条件对被拍摄物体进行成像并生成所述光学系统的焦点检测中使用的检测信号,该第2成像区域以与所述第1成像条件不同的第2成像条件对被摄物体进行成像并生成用于曝光运算的信号;
设定部,其在所述成像元件中,设定所述第1成像区域的配置位置和所述第2成像区域的配置位置;以及
抽取部,其在所述成像元件中抽出供来自特定的被摄物体的光入射的特定区域,
所述设定部在由所述抽取部抽出的所述特定区域中设定所述第1成像区域和所述第2成像区域。
3.如权利要求1或2所述的电子设备,其特征在于,
所述抽取部对被摄物体的亮度分布进行解析,而在所述成像元件中抽出供来自特定的被摄物体的光入射的特定区域。
4.如权利要求1或2所述的电子设备,其特征在于,
所述设定部在与由所述抽取部抽出的所述特定区域不同的区域设定所述第2成像区域。
5.如权利要求1或2所述的电子设备,其特征在于,
所述设定部在所述成像元件中以所述第2成像区域的面积比所述第1成像区域的面积大的方式来配置所述第1成像区域和所述第2成像区域。
6.如权利要求1或2所述的电子设备,其特征在于,
在所述成像元件中,作为所述第1成像条件而设定第1帧率,作为所述第2成像条件而设定第2帧率,
所述第1帧率比第2帧率高。
7.如权利要求1或2所述的电子设备,其特征在于,具有:
记录部,其记录由所述成像元件拍摄得到的被摄物体的图像数据;和
指示部,其对所述记录部进行指示以使其记录所述图像数据,
所述设定部在由所述指示部对所述记录部进行指示而使其记录所述图像数据的情况下,解除所述第1成像条件的设定和所述第2成像条件的设定。
8.一种成像元件,供来自光学系统的光入射,其特征在于,具有:
第1成像区域,其以第1成像条件对被摄物体进行成像并生成所述光学系统的焦点检测中使用的检测信号;和
第2成像区域,其以与所述第1成像条件不同的第2成像条件对被摄物体进行成像并生成用于白平衡调整的信号。
9.如权利要求8所述的成像元件,其特征在于,
所述第2成像区域对被摄物体进行成像并生成图像信号。
10.如权利要求8所述的成像元件,其特征在于,
所述第2成像区域对被摄物体进行成像并生成用于曝光运算的信号。
11.如权利要求8所述的成像元件,其特征在于,
根据所述第1成像条件设定的帧率比根据所述第2成像条件设定的帧率高。
12.如权利要求8所述的成像元件,其特征在于,
所述第1成像区域的面积比所述第2成像区域的面积大。
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