[发明专利]显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及具备触摸屏幕的显示装置。

背景技术

作为检测并输出通过使用者的手指或者笔等指示体指示了的触摸屏幕上的位置(以下有时称为“触摸位置”)的装置，广泛已知触摸面板。作为触摸面板中的触摸位置的检测方式，已知多个检测方式。作为其中的静电电容方式的触摸面板的一个，有投影型静电电容(Projected Capacitive)方式的触摸面板。

关于投影型静电电容方式的触摸面板，即使在用厚度是几mm左右的玻璃板等保护板覆盖了触摸屏幕的使用者侧的面(以下有时称为“表侧面”)的情况下，也能够检测触摸位置。投影型静电电容方式的触摸面板具有由于能够将保护板配置于表侧面而坚固性优良、由于无可动部而寿命长等优点。

投影型静电电容方式的触摸面板的触摸屏幕构成为具备检测列方向的触摸位置的坐标的检测用列布线、和检测行方向的触摸位置的坐标的检测用行布线(例如参照专利文献1)。在以下的说明中，有时将检测用列布线和检测用行布线合起来称为“检测用布线”。

在专利文献1中，公开了与触摸面板相当的触摸板系统。在专利文献1公开的触摸板系统中，作为用于检测静电电容(以下有时简称为“电容”)的检测用布线，具备在薄的感应膜上形成了的第1串联的导体构件、和在第1串联的导体构件上隔开绝缘膜而形成了的第2串联的导体构件。在各导体构件之间无电接触，形成了从表侧面的法线方向观察到的第1串联的导体构件和第2串联的导体构件的一方与另一方重叠但无电接触的交叉部分。

通过用检测电路检测在手指等指示体与作为检测用布线的导体构件之间形成的电容(以下有时称为“触摸电容”)，确定指示体的触摸位置的位置坐标。另外，能够通过1个以上的导体构件的检测电容的相对值，对导体构件间的触摸位置进行插值。

在以下的说明中，将在透明感应体基板中配置了检测用列布线和检测用行布线的部件称为“触摸屏幕”，将对触摸屏幕连接了检测用电路的装置称为“触摸面板”。另外，在触摸屏幕中，将能够检测触摸位置的区域称为“操作区域”。

在触摸屏幕的操作区域中，为了在全部部位检测指示体的触摸位置，需要在操作区域上密集地配置检测用布线。在这样在操作区域上密集地配置检测用布线的情况下，需要避免检测用布线被使用者视觉辨认这样的问题。

如果用例如铟锡氧化物(Indium Tin Oxide；简称：ITO)等透明导电膜构成检测用布线，则检测用布线被使用者视觉辨认的可能性变低。但是，关于ITO等透明导电膜，电气电阻(以下有时简称为“电阻”)比较高，所以存在对触摸屏幕的大型化不利这样的问题。另外，关于ITO等透明导电膜，光透射率(以下有时简称为“透射率”)不怎么高，所以在液晶显示元件(Liquid Crystal Display；简称：LCD)等中对触摸屏幕从其背侧面即从与使用者侧相反的一侧进行照明而使用的情况下，需要比较大量的光，存在对低功耗化不利这样的问题。

作为检测用布线的材料，还能够使用例如银或者铝等低电阻的金属材料。通过作为检测用布线，使用用金属材料构成的布线(以下有时称为“金属布线”)，能够降低检测用布线的电阻，但金属布线不透明，所以存在易于被视觉辨认这样的问题。为了降低金属布线的视觉辨认性、并且提高触摸屏幕的透射率，需要使金属布线细线化。

如果将细线化了的金属布线用作检测用布线，在触摸屏幕的操作区域上密集地配置，则发生检测用列布线与检测用行布线之间的寄生电容(以下有时称为“线间电容”)大幅增大这样的问题，引起例如布线延迟增大这样的弊病。

通过降低布线的电阻，能够在某种程度上缓和布线延迟。例如，在专利文献2中公开了为了缓和布线延迟而降低布线的电阻的技术。

在专利文献2公开的触摸屏幕中，通过将检测用列布线以及检测用行布线分别设为连接了直线状并且细线状的金属布线的锯齿形图案，同时实现低电阻化和线间电容降低。

另外，在专利文献2公开的触摸屏幕中，对大致地在行方向上延伸设置了的多根检测用行布线进行电连接而设为行方向的束布线，并且对大致地在列方向上延伸设置了的多根检测用列布线进行电连接而设为列方向的束布线。由此，能够均匀地检测由手指等指示体与检测用行布线之间的电容、以及指示体与检测用列布线之间的电容构成的触摸电容。