[发明专利]电光装置用基板、电光装置、电子设备及电光装置用基板的制造方法在审
申请号: | 201480011800.1 | 申请日: | 2014-03-03 |
公开(公告)号: | CN105027186A | 公开(公告)日: | 2015-11-04 |
发明(设计)人: | 宫胁大介;伊藤智 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | G09F9/30 | 分类号: | G09F9/30;G02B5/02;G02F1/13;G02F1/1333;G02F1/1335 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 万利军;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 电光 装置 用基板 电子设备 制造 方法 | ||
1.一种电光装置用基板,其特征在于,具备:
透射光的基板,其具有第1面和与上述第1面相向的第2面,第1斜面及第2斜面以从上述第1面朝向上述第2面的方式配置;
覆盖上述第1斜面及上述第2斜面的第1绝缘膜;
槽部,其具有覆盖上述第1斜面的上述第1绝缘膜的表面即第3斜面和覆盖上述第2斜面的上述第1绝缘膜的表面即第4斜面,沿着从上述第2面侧朝向上述第1面侧的方向变宽;以及
覆盖上述槽部及上述第1绝缘膜的第2绝缘膜,
上述第2绝缘膜的覆盖上述槽部的部分的一部分,与上述第3斜面具有间隔,
上述第2斜面配置在上述第1斜面的上述第1面侧,
上述第2斜面与上述第1面的法线所成的角度,比上述第1斜面与上述法线所成的角度大。
2.权利要求1所述的电光装置用基板,其特征在于,
上述第1斜面与上述法线所成的角度处于1度到3度的范围,上述第2斜面与上述法线所成的角度处于4度到7度的范围。
3.权利要求2所述的电光装置用基板,其特征在于,
上述第3斜面与上述法线所成的角度比3度小。
4.权利要求3所述的电光装置用基板,其特征在于,
上述第3斜面包括:以相对于与上述第1面正交的面呈面对称的方式配置的斜面,
以呈上述面对称的方式配置的斜面在从上述第1面侧朝向上述第2面侧的方向相连。
5.权利要求1至4的任一项所述的电光装置用基板,其特征在于,
上述第1绝缘膜是通过采用四乙氧基硅烷气体的等离子CVD而形成的氧化硅。
6.权利要求1至5的任一项所述的电光装置用基板,其特征在于,
上述基板、上述第1绝缘膜和上述第2绝缘膜具有大致相同的折射率,
由上述槽部和上述第2绝缘膜包围的区域的折射率比上述基板的折射率小。
7.一种电光装置,其特征在于,具备:
具有像素电极和驱动上述像素电极的晶体管的第1基板;和
与上述第1基板相向配置的第2基板,
上述第1基板及上述第2基板的至少一方具备权利要求1至6的任一项所述的电光装置用基板。
8.一种电子设备,其特征在于,具备:
权利要求7所述的电光装置。
9.一种电光装置用基板的制造方法,是权利要求1至6的任一项所述的电光装置用基板的制造方法,其特征在于,包括:
在上述基板的上述第1面沉积掩模的工序;
对上述掩模实施各向异性刻蚀,形成由壁面包围并使上述基板露出的开口部的工序;
一边以使上述壁面后退的方式刻蚀上述掩模,一边对在上述开口部露出的上述基板实施各向异性刻蚀的工序;
去除上述掩模的工序;以及
通过采用四乙氧基硅烷气体的等离子CVD来沉积氧化硅,来形成上述槽部的工序。
10.权利要求9所述的电光装置用基板的制造方法,其特征在于,
上述基板的构成材料是石英,
上述掩模的构成材料是硅化钨或硅的任一种。
11.一种电光装置用基板的制造方法,其特征在于,包括:
在基板的第1面沉积掩模的工序;
在上述掩模形成开口部的工序;
对上述基板从上述开口部侧实施各向异性刻蚀,形成具有第1斜面及第2斜面的第1槽的工序;
去除上述掩模的工序;
形成覆盖上述第1斜面及上述第2斜面的第1绝缘膜的工序;以及
形成覆盖上述第1槽及第1绝缘膜的第2绝缘膜的工序,
上述第2斜面配置于上述第1斜面的上述第1面侧,
上述第2绝缘膜的覆盖上述槽的部分的一部分,与覆盖上述第1斜面的上述第1绝缘膜的表面即第3斜面具有间隔,
上述第2斜面与上述第1面的法线之间的角度,比上述第1斜面与上述法线之间的角度大。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于精工爱普生株式会社,未经精工爱普生株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201480011800.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:中断的上下文相关处理
- 下一篇:粘贴方法以及管理方法