[发明专利]适合询问样品的仪器和方法

权利要求书

1.一种适合询问样品的仪器，包括：

接触平台，其中接触平台包括多个询问区域，并且每个询问区域包括将电势传导到询问区域的至少一对工作电接触探针和对电接触探针，

操作地连接到电压源的控制器，其中电压源能连接到所述至少一对工作电接触探针和对电接触探针，和

多路转换器，该多路转换器连接到控制器和电压源，以有选择地连接电压源从而向单个询问区域的工作电接触探针提供电压，或者将电压源连接到一个以上询问区域的工作电接触探针，

其中所述一个以上询问区域的对电接触探针电连接到所述接触平台和电接地。

2.根据权利要求1所述的仪器，其中多个询问区域排列成PxQ矩阵。

3.根据权利要求2所述的仪器，其中该PxQ矩阵是2x2矩阵。

4.根据权利要求1所述的仪器，其中接触平台上的所述至少一对工作电接触探针和对电接触探针包括直立的销。

5.根据权利要求4所述的仪器，其中直立的销是弹簧加压的。

6.根据权利要求1所述的仪器，还包括位于接触平台上方的光学传感器。

7.根据权利要求6所述的仪器，还包括第一对齐机构，该第一对齐机构包括从平台向光学传感器投射以相对于光学传感器对齐平台的光源。

8.根据权利要求1所述的仪器，还包括板滑架平台，其适合搬运多井板并且相对于接触平台定位该板，以便电势能够被施加到该板上的一个或多个井上。

9.根据权利要求8所述的仪器，还包括第二对齐机构，其包括位于板滑架框架上的多个孔，并且其中光源从平台照射通过该孔，以使板滑架框架与接触平台进一步对齐。

10.根据权利要求9所述的仪器，其中板滑架框架包括矩形开口，其规格和尺寸被做成适合将裙部支撑在多井板的周围上。

11.根据权利要求10所述的仪器，其中该多个孔被定位在矩形开口的至少两侧上。

12.根据权利要求8所述的仪器，其中板滑架框架包括锁紧机构，以将多井板保持到板滑架框架。

13.根据权利要求8所述的仪器，还包括位于板滑架框架上的聚焦机构，其允许光学传感器相对于聚焦机构被聚焦。

14.根据权利要求8所述的仪器，还包括第三对齐机构，它包括位于板滑架框架上的导电表面，以便当接触平台上的特有的电接触探针与该导电表面接触时，电流在接触平台上的特有的电接触探针之间流动，以指示特有的电接触探针和板滑架框架之间的预定距离。

15.一种适合询问样品的仪器，包括：

接触平台，其中该平台包括多个询问区域，并且每个询问区域包括将电势传导到询问区域的至少一对工作电接触探针和对电接触探针，

操作地连接到电压源的控制器，其中该电压源能连接到所述至少一对工作电接触探针和对电接触探针，和

连接到控制器和电压源的多路转换器，以从电压源和单个询问区域的工作电接触探针之间的第一连接切换到电压源和一个或多个询问区域的工作电接触探针之间的第二连接，其中所述第一连接和所述第二连接向所述工作电接触探针提供电压，

其中所述一个或多个询问区域的对电接触探针电连接到所述接触平台和电接地。