[发明专利]微粒分析装置、微粒分析方法和微粒分析系统

权利要求书

1.一种微粒分析装置，包括

数据提取单元，所述数据提取单元被配置为基于光谱数据的最大强度从微粒发出的荧光的所述光谱数据中选择性地分离包含预定信息的所述光谱数据，其中，所述数据提取单元从所述微粒发出的荧光针对多个波长中的每一个的强度的一种或多种光谱数据中选择性地分离指示预先设置的波长范围中的最大强度的光谱数据，

用户信息获取单元，获取包含关于波长范围的信息的用户输入信息，其中，

所述数据提取单元基于所述用户输入信息选择性地分离所述光谱数据。

2.根据权利要求1所述的微粒分析装置，其中，所述数据提取单元从所述一种或多种光谱数据去除指示所述最大强度低于预定强度的光谱数据。

3.根据权利要求1所述的微粒分析装置，包括：

显示调节单元，允许显示所述一种或多种光谱数据，其中，

当通过所述数据提取单元分离了所述光谱数据时，所述显示调节单元允许选择性地显示所分离的光谱数据。

4.根据权利要求3所述的微粒分析装置，包括：

数据获取单元，获取所述一种或多种光谱数据，其中，

所述显示调节单元允许重叠显示通过所述数据获取单元所获取的光谱数据。

5.根据权利要求4所述的微粒分析装置，其中，所述显示调节单元根据所述光谱数据之间重叠的频率来改变所述光谱数据的显示颜色。

6.根据权利要求4所述的微粒分析装置，其中，所述显示调节单元改变所述光谱数据的显示以显示表示所述微粒的频率分布的直方图数据。

7.根据权利要求5所述的微粒分析装置，其中，所述显示调节单元允许选择性地显示表示预定范围内的重叠频率的光谱数据。

8.根据权利要求1所述的微粒分析装置，其中，所述数据提取单元包括将所述光谱数据近似成多项式的多项式近似处理单元。

9.根据权利要求8所述的微粒分析装置，其中，所述多项式是线性方程。

10.根据权利要求8所述的微粒分析装置，进一步包括：

数据获取单元，以预定时间间隔从同一对象获取多个光谱数据，其中，

所述多项式近似处理单元将通过所述数据获取单元以预定时间间隔获取的所述多个光谱数据中的每一个近似成多项式。

11.根据权利要求1所述的微粒分析装置，包括检测单元，所述检测单元检测从所述微粒发出的荧光。

12.根据权利要求11所述的微粒分析装置，包括分类单元，所述分类单元基于通过所述数据提取单元所分离的光谱数据对所述微粒进行分类。

13.一种微粒分析方法，包括：

基于光谱数据的最大强度，通过使用数据提取单元从微粒发出的荧光的光谱数据中选择性地分离包含预定信息的光谱数据；并且

通过使用所述数据提取单元从所述微粒发出的荧光针对多个波长中的每一个的强度的一种或多种光谱数据中选择性地分离指示预先设置的波长范围中的最大强度的光谱数据，

通过使用用户信息获取单元获取包含关于波长范围的信息的用户输入信息，其中基于所述用户输入信息选择性地分离所述光谱数据。

14.一种微粒分析系统，包括：

根据权利要求1所述的微粒分析装置。

15.根据权利要求14所述的微粒分析系统，其中，所述微粒分析装置包括检测单元，所述检测单元检测从所述微粒发出的荧光。

16.根据权利要求15所述的微粒分析系统，包括服务器，所述服务器包括信息存储单元，所述信息存储单元被配置为存储指示通过所述微粒分析装置的所述检测单元检测到的荧光针对多个波长中的每一个的强度的一个或多个光谱数据。