[发明专利]图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置

说明书

技术领域

本公开涉及一种图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置。

背景技术

在显示装置(更具体地说是平板型(平面型)的显示装置)中，关于显示面板的经时亮度劣化，根据从像素信号的信息和显示面板的代表性的劣化特性预测的劣化值(劣化预测值)进行补正。但是，因为每个显示面板的劣化特性会有偏差，所以仅根据代表性的劣化预测值(估算值)不能进行充分的劣化补正。

作为其对策，提出了如下技术(例如，参照专利文献1)：使用伪像素通过亮度传感器测定每个显示面板的亮度实际劣化状态，并且根据该测定结果定期修正劣化预测值(估算值)以使其适合实际劣化状态，来保证补正精度。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2007-187761号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

但是，如上述以往的技术那样，在通过亮度传感器进行实际劣化状态的测定中，在低亮度侧很难高精度地检测出对画质劣化影响大的亮度变化、即发光开始点的电压移动(发光开始电压移动/偏移)。

可是，使用亮度传感器不是不可能高精度地检测发光开始电压移动(阶调劣化)。但是，因为下列因素：需要使用受光灵敏度高的大面积亮度传感器、测定需要很长时间等、作为亮度传感器需要具有与高价的测定器同等的性能，所以导致成本上涨、调整工时的增加，并且给用户使用时的便利性带来限制等的影响变大。

本公开以提供一种即使不使用高价的亮度传感器等，也可以高精度地补正在低亮度侧对画质劣化影响大的发光开始电压移动的劣化预测值(估算值)的偏差的图像信号处理电路、图像信号处理方法、以及具有该图像信号处理电路的显示装置为目的。

解决技术问题的手段

用于达成上述目的的本公开的图像信号处理电路的构造具备：显示面板，具有配置在有效像素区域之外的第1伪像素；电流检测单元，检测第1伪像素的电流变化；修正处理单元，根据电流检测单元检测出的电流的实际劣化量，修正预先决定的劣化预测值；以及补正处理单元，根据由修正处理单元修正后的劣化预测值，补正驱动有效像素的图像信号。

另外，用于达成上述目的的本公开的图像信号处理方法的构成是：检测配置在显示面板的有效像素区域之外的第1伪像素的电流变化；根据检测出的电流的实际劣化量，修正预先决定的劣化预测值；根据修正后的劣化预测值，补正驱动有效像素的图像信号。

另外，用于达成上述目的的本公开的显示装置的构造具有图像信号处理电路。该图像信号处理电路具备：显示面板，具有配置在有效像素区域之外的第1伪像素；电流检测单元，检测第1伪像素的电流变化；修正处理单元，根据电流检测单元检测出的电流的实际劣化量，修正预先决定的劣化预测值；以及补正处理单元，根据由修正处理单元修正后的劣化预测值，补正驱动有效像素的图像信号。

作为显示面板的经时亮度劣化的要素，为有效像素的发光单元的发光效率的降低，再加上驱动发光单元的晶体管的特性的劣化(降低)。在显示面板的有效像素区域之外设置伪像素，并且检测该伪像素的电流的实际劣化量，由此能够检测出驱动发光单元的晶体管的特性的劣化份。于是，对用于对驱动有效像素的图像信号进行补正的预先决定的劣化预测值，根据伪像素的电流的实际劣化量进行修正，并且使用该修正后的劣化预测值进行补正处理，由此能够补正考虑过晶体管特性的劣化份的亮度劣化。

发明的效果

根据本公开，因为即使不使用高价的亮度传感器等，也能够高精度地补正在低亮度侧对画质劣化影响大的发光开始电压移动的劣化预测值(估算值)的偏差，所以能够提高显示面板的经时亮度劣化的补正精度。

此外，本说明书所记载的效果只是例示，并不限于此，另外也可以具有附加效果。

附图说明

[图1]图1是表示本公开的实施方式的显示装置的系统构造的方框图。

[图2]图2是有关在补正处理单元执行的烧屏补正的想法的说明图。

[图3]图3A是表示初期处理步骤的处理程序的流程图，图3B是表示通常处理的通常动作模式的处理程序的流程图。

[图4]图4是表示通常处理的测定/LUT修正模式的处理程序的流程图。

[图5]图5A是方格图案结构的检测图案(Pattern)的模式图，图5B是竖条图案结构的检测图案的模式图。

[图6]图6是有关劣化量计算方法的说明图。

[图7]图7A是表示在测定亮度劣化的情况下的初期测定时的V-L特性的图，图7B是表示在测定亮度劣化的情况下的通常测定时的V-L特性的图。