[发明专利]在金属化可变形衬底上的低力电触头

权利要求书

1.一种用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其包括：

电路板，所述电路板具有多个导电条；以及

连接器组件，所述连接器组件安装在所述电路板的一侧上，并且构造成接纳在插入方向上移动至测试位置的测试条，所述连接器组件包括：

连接器组件主体；

金属板，所述金属板具有两个或更多扣合连接器，所述两个或更多扣合连接器大体垂直地从所述金属板延伸并且朝向所述电路板延伸，其中所述金属板经由所述扣合连接器紧固至所述连接器组件主体，并且与所述连接器组件主体协作地限定接纳所述测试条的槽；以及

导体，所述导体具有：

导体接触主体，所述导体接触主体直接安装至所述连接器组件主体；以及

触头臂，所述触头臂一体地连接至所述导体接触主体并且完全在所述插入方向上自由延伸。

2.根据权利要求1所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，安装至所述电路板的所述连接器组件限定电路板组件，并且所述电路板组件保持在测试装置中。

3.根据权利要求2所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其还包括：

所述导体接触主体的延伸部分；以及

所述电路板的导电条，其由所述导体接触主体的所述延伸部分直接地接触。

4.根据权利要求1所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，每个扣合连接器包括叶片部分，所述叶片部分具有槽，所述槽形成在叶片部分中并且当所述连接器组件主体紧固至扣合连接器时构造成接纳从所述连接器组件主体向外延伸的齿。

5.根据权利要求4所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，所述金属板包括成形的端部，所述端部相对于所述金属板有角度地定向以使测试条对准。

6.根据权利要求4所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其还包括：

所述导体接触主体的延伸部分；以及

所述连接器组件主体包括长形槽，所述延伸部分自由延伸通过所述长形槽。

7.根据权利要求1所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其还包括：

测试条，所述测试条用于接纳生物流体的样本，在所述测试条上形成有触头；以及

所述触头臂，所述触头臂对准以直接地接触所述测试条的所述触头。

8.根据权利要求7所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，所述触头臂限定在所述测试条在所述插入方向上移动时沿着所述触头拖过的梁。

9.根据权利要求1所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，所述导体具有倒圆表面，所述倒圆表面背离所述电路板并且由压印工艺形成，从而最小化了导体与所述测试条接触的表面面积。

10.一种用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其包括：

测试条，所述测试条用于接纳生物流体的样本，在所述测试条上形成有多个触头；以及

测试装置，所述测试装置具有：

电路板，所述电路板具有多个导电条；以及

连接器组件，所述连接器组件固定至所述电路板并且在所述测试条在插入方向上移动至测试位置时接纳所述测试条，所述连接器组件包括：

连接器组件主体；

金属板，所述金属板具有两个或更多扣合连接器，所述两个或更多扣合连接器大体垂直地从所述金属板延伸并且朝向所述电路板延伸，其中所述金属板经由所述扣合连接器紧固至所述连接器组件主体，并且与所述连接器组件主体协作地限定接纳所述测试条的槽；以及

多个导体，所述多个导体的每个具有：

导体接触主体，所述导体接触主体固定地连接至所述连接器组件主体；以及

触头臂，所述触头臂一体连接至所述导体接触主体并且完全在所述插入方向上自由延伸，所述触头臂首先在所述测试条的插入期间偏转然后在测试条安装位置与所述测试条的所述触头中的一个直接地接触。