[发明专利]根据双能量图像确定剩余模式图像有效
申请号: | 201480015630.4 | 申请日: | 2014-03-14 |
公开(公告)号: | CN105122300B | 公开(公告)日: | 2018-09-25 |
发明(设计)人: | R·维姆科;T·比洛;A·戈森;K·埃哈德;M·贝格特尔特;H·S·黑泽 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | G06T5/50 | 分类号: | G06T5/50;A61B6/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 李光颖;王英 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 根据 能量 图像 确定 剩余 模式 | ||
1.一种用于处理数字图像(40)的方法,所述数字图像包括具有与不同的能量水平有关的强度的像素,所述方法包括以下步骤:
接收所述数字图像(40)的第一图像数据(42a)和第二图像数据(42b),所述第一图像数据(42a)对第一能量水平进行编码,并且所述第二图像数据(42b)对第二能量水平进行编码;
根据所述第一图像数据(42a)和所述第二图像数据(42b)来确定回归模型(44),所述回归模型(44)建立所述第一图像数据(42a)的像素的强度与所述第二图像数据(42b)的像素的强度之间的相关性;
根据所述第一图像数据(42a)和所述第二图像数据(42b)来计算剩余模式图像数据(46),使得所述剩余模式图像数据(46)的像素具有基于所述第二图像数据(42b)在所述像素处的强度与所述第一图像数据(42a)的所述像素的相关强度之间的差的强度,所述相关强度是通过将所述回归模型应用到所述第一图像数据(42a)的像素的所述强度来确定的。
2.如权利要求1所述的方法,
其中,所述回归模型(44)是非线性模型。
3.如权利要求1或2所述的方法,还包括以下步骤:
选择所述数字图像(40)的区域(50),
其中,所述回归模型(44)是根据仅所选择的区域(50)的像素来确定的,并且/或者所述剩余模式图像数据(46)是针对仅所选择的区域(50)的像素来确定的。
4.如权利要求1所述的方法,还包括以下步骤:
计算主导模式图像数据(48),其中,所述主导模式图像数据(48)的像素的强度是基于所述第一图像数据(42a)和所述第二图像数据(42b)的所述像素关于所述回归模型(44)的相关强度的。
5.如权利要求1、2和4中的任一项所述的方法,还包括以下步骤:
通过将所述图像数据与所述剩余模式图像数据(46)进行叠加来将所述剩余模式图像数据(46)连同另外的图像数据(42a、42b、48)一起显示在显示设备(16)上。
6.如权利要求1、2和4中的任一项所述的方法,还包括以下步骤:
通过在显示设备(16)上切换所述图像数据与所述剩余模式图像数据(46)来将所述剩余模式图像数据(46)连同另外的图像数据(42a、42b、48)一起显示在所述显示设备(16)上。
7.如权利要求6所述的方法,所述图像数据与所述剩余模式图像数据(46)是通过用户命令来切换的。
8.如权利要求1、2和4中的任一项所述的方法,还包括以下步骤:
通过将所述图像数据与所述剩余模式图像数据(46)进行阿尔法融合来将所述剩余模式图像数据(46)连同另外的图像数据(42a、42b、48)一起显示在显示设备(16)上。
9.如权利要求1、2和4中的任一项所述的方法,还包括以下步骤:
对所述剩余模式图像数据(46)应用阈值强度,使得所述剩余模式图像数据(46)中具有在所述阈值强度以下的强度的像素被丢弃。
10.如权利要求9所述的方法,
其中,所述阈值强度被确定,使得所述剩余模式图像数据(46)的欧拉特性在所述阈值强度处下降到预定数值以下。
11.如权利要求1、2和4中的任一项所述的方法,还包括以下步骤:
利用X射线探测器布置(12)来记录所述第一图像数据(42a)和所述第二图像数据(42b),所述X射线探测器布置(12)适于采集不同的X射线能量水平处的X射线。
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