[发明专利]用于对X射线图像中的结构进行计算机辅助探测的方法和X射线系统有效

专利信息
申请号: 201480017074.4 申请日: 2014-02-20
公开(公告)号: CN105074774B 公开(公告)日: 2019-11-15
发明(设计)人: J·E·弗雷登贝里;M·V·伦德奎斯特;E·勒斯尔;K·埃哈德;T·克勒;B·塞德斯特伦;H-I·马克 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: G06T5/50 分类号: G06T5/50;A61B6/00
代理公司: 72002 永新专利商标代理有限公司 代理人: 李光颖;王英<国际申请>=PCT/IB2
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 用于 射线 图像 中的 结构 进行 计算机辅助 探测 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种用于对X射线图像中的结构进行计算机辅助探测的方法(70、80、90),包括以下步骤:

获得(72)对象的谱X射线图像信息;

其中,所述谱X射线图像信息构成至少一幅X射线图像;并且

通过采用计算机辅助探测算法来探测(74)所述X射线图像中的感兴趣组织结构;

其中,探测所述X射线图像中的感兴趣组织结构包括使所述计算机辅助探测算法适于针对组织结构形状来对所述X射线图像进行评估,并且将所述组织结构形状与多个预定的组织结构形状进行比较;并且

其中,所述计算机辅助探测算法适于评估所述X射线图像的谱信息以探测所述感兴趣组织结构,其特征在于

获得(82)对应于至少两个不同的X射线能量的至少两幅X射线图像;

根据所述至少两幅X射线图像来确定(84)至少一幅另外的X射线图像;

其中,所述至少一幅另外的X射线图像是具有定义的能量相关加权的X射线图像;并且

评估(86)所述至少一幅另外的X射线图像以探测所述组织结构形状,

其中,根据所述至少两幅X射线图像来确定至少一幅另外的X射线图像采用以下公式:

其中,I合成是所确定的至少一幅另外的X射线图像,E是能量,w(E)是定义的能量相关加权,I0(E)是X射线谱,μa(E)和μg(E)是基本物质的物质分离(ta,tg)的衰减函数。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述谱X射线图像信息能够被分成具有独立的X射线能量的所述至少两幅X射线图像。

3.根据权利要求1至2中的任一项所述的方法,还包括:

确定(92)多幅另外的X射线图像,每幅另外的X射线图像具有独立的定义的能量相关加权;并且

评估(94)所述多幅另外的X射线图像以探测所述组织结构形状;并且

通过对某个组织结构形状的可见性进行优化或最小化来根据所述多幅另外的X射线图像确定(96)至少一幅X射线图像。

4.根据权利要求3所述的方法,其中,通过对某个组织结构形状的可见性进行优化或最小化来根据所述多幅另外的X射线图像确定至少一幅X射线图像包括确定所述至少一幅X射线图像的相关联的能量相关加权。

5.根据权利要求4所述的方法,其中,所确定的相关联的能量相关加权被用于探测所述感兴趣组织结构。

6.根据权利要求5所述的方法,其中,通过采用某个感兴趣组织结构的能量相关可见性来探测所述感兴趣组织结构。

7.根据权利要求1至2中的任一项所述的方法,其中,所述能量相关加权是单能量加权、带通加权、低通加权、高通加权和陷波加权中的一个。

8.根据权利要求1至2中的任一项所述的方法,其中,通过采用计算机辅助探测算法来获得对象的谱X射线图像信息并且探测所述X射线图像中的感兴趣组织结构包括以下中的一个:首先执行计算机辅助探测算法并且其次执行对X射线图像的谱评估;首先执行谱评估并且其次执行对X射线图像的计算机辅助探测算法;以及,对X射线图像执行组合的谱计算机辅助探测算法。

9.根据权利要求1至2中的任一项所述的方法,其用于在乳房摄影系统(50)中使用,获得对象的谱X射线图像信息还包括:

在探测所述X射线图像中的感兴趣组织结构之前对组织高度梯度或组织物质梯度中的至少一个进行补偿。

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