[发明专利]用于分析液滴中所含样本的光学测量仪器和方法

权利要求书

1.一种被配置用于分析液体处理系统(3)所提供的液滴(2)中所含样本的光学测量仪器(1)，所述光学测量仪器(1)包括：

a)具有至少一个液体处理吸头(4)的液体处理系统(3)，所述至少一个液体处理吸头(4)具有液体处理轴(5)以及在所述液体处理吸头(4)的末端(7)处具有液体处理孔(6)，所述液体处理轴(5)在所述液体处理吸头(4)内延伸并穿透所述液体处理孔(6)，所述液体处理系统(3)进一步包括由所述液体处理系统(3)的中央处理器(44)控制的泵(39)，所述泵(39)经耐压管线(40)在操作上连接到所述液体处理吸头(4)；

b)被配置用于提供用于照射液体样本(30)的液滴(2)的照射光(9)的光源(8)；

c)被配置用于测量来自所述液滴(2)的样本光(11)以及用于提供表示测得的样本光(11)的测量信号(12)的检测器(10)；

d)具有用于透射所述照射光(9)的第一光学元件(18)的光学系统(43)；以及

e)连接到所述检测器(10)并被配置成接受并处理所述检测器(10)提供的所述测量信号(12)的处理器(13)，

其中所述光源(8)和所述液滴(2)定义了所述光学系统(43)的所述第一光学元件(18)的第一光学轴(14)，所述第一光学轴(14)基本垂直于所述液体处理轴(5)延伸，所述液滴(2)由所述液体处理系统(3)提供并在所述液滴(2)被所述第一光学轴(14)穿透的位置处悬垂在所述液体处理吸头(4)的所述液体处理孔(6)处，

其中所述液滴(2)与所述光学测量仪器(1)的所述光学系统(43)物理上隔开，且仅被所述液体处理系统(3)的所述液体处理吸头(4)以及所述液体处理吸头(4)内的所述液体样本(30)物理接触，具有所述第一光学元件(18)的所述光源(8)从而与所述液滴(2)隔开第一气隙(15)，而所述检测器(10)从而与所述液滴(2)隔开第二气隙(16)，

其中所述光学测量仪器(1)进一步包括被配置用于检测穿透所述液滴(2)的光的实际光学路径长度或用于控制所述液滴(2)的大小和位置的成像芯片(32)，以及

其中所述液体处理系统(3)的所述中央处理器(44)由所述光学测量仪器(1)的所述处理器(13)控制，所述泵(39)与所述光学测量仪器(1)的所述处理器(13)以及与所述液体处理系统(3)的所述中央处理器(44)的有效组合是一种用于相对于所述光学系统(43)的至少一个光学元件(18、19)来适配所述液滴(2)的大小的手段。

2.如权利要求1所述的光学测量仪器(1)，

其中所述光学系统(43)包括用于将来自所述液滴(2)的所述样本光(11)透射到所述检测器(10)的第二光学元件(19)，所述第二光学元件(19)从而与所述液滴(2)隔开第二气隙(16)。

3.如权利要求2所述的光学测量仪器(1)，

其中具有所述光学测量仪器(1)的所述第二光学元件(19)的所述检测器(10)被安置在所述第一光学轴(14)上或第二光学轴(23)上。

4.如权利要求3所述的光学测量仪器(1)，

其中所述光学测量仪器(1)包括用于对所述液滴(2)的大小和/或位置成像的第二光源(37)和准直透镜(38)，所述第二光源(37)、准直透镜(38)以及成像芯片(32)被安置在第三光学轴(35)上。

5.如权利要求1所述的光学测量仪器(1)，

其中所述光学测量仪器(1)包括被安置在所述第一光学轴(14)之外的冷光检测器(42)。

6.如权利要求5所述的光学测量仪器(1)，

其中所述冷光检测器(42)是荧光检测器。

7.如权利要求1所述的光学测量仪器(1)，

其中，所述光学测量仪器(1)的所述处理器(13)包括被配置用于计算穿透所述液滴(2)的光的实际光学路径长度的算法。