[发明专利]铁氧体颗粒及使用其的电子照相显影用载体、电子照相用显影剂以及铁氧体颗粒的制造方法有效
申请号: | 201480018910.0 | 申请日: | 2014-02-26 |
公开(公告)号: | CN105073644B | 公开(公告)日: | 2017-04-05 |
发明(设计)人: | 河内岳志;小川翔;松田行弘 | 申请(专利权)人: | 同和电子科技有限公司;同和铁粉创新有限公司 |
主分类号: | C01G49/00 | 分类号: | C01G49/00;G03G9/107;G03G9/113 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 | 代理人: | 刘新宇,李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 铁氧体 颗粒 使用 电子 照相 显影 载体 显影剂 以及 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及表面为凹凸形状、具有规定的磁特性的铁氧体颗粒及使用其的电子照相显影用载体(以下,有时简称为“载体”)、电子照相用显影剂(以下,有时简称为“显影剂”)以及铁氧体颗粒的制造方法。
背景技术
例如,在使用电子照相方式的传真机、打印机、复印机等图像形成设备中,使调色剂附着于感光体的表面上形成的静电潜像,进行可视图像化,将该可视图像转印到纸张等后,进行加热/加压来进行定影。从高画质化、色彩化的观点出发,作为显影剂,广泛使用了包含载体和调色剂的所谓的双组分显影剂。
在使用双组分显影剂的显影方式中,在显影设备内搅拌混合载体和调色剂,利用摩擦使调色剂带电至规定量。然后,向旋转的显影辊供给显影剂,在显影辊上形成磁刷,介由磁刷使调色剂向感光体电移动,使感光体上的静电潜像可视图像化。调色剂移动后的载体残留在显影辊上,在显影设备内再次与调色剂混合。因此,作为载体的特性,要求用于形成磁刷的磁特性、向调色剂赋予所需的电荷的带电特性以及反复使用时的耐久性。
因此,目前为止较多地使用用树脂覆盖磁铁矿、各种铁氧体等磁性颗粒的表面的所谓的涂层载体。然而,颗粒表面的覆盖树脂层由于在显影设备内的长期的搅拌等而磨损。若颗粒表面的覆盖树脂层整体磨损,则载体的带电特性降低,产生调色剂的带电不良,图像质量下降。
专利文献1提出了为了提高与覆盖树脂层的粘接强度,对于特定组成的铁氧体颗粒,在晶粒(結晶粒)的表面形成微小的凹凸。另外,专利文献2提出了在铁氧体颗粒的表面形成细条状褶纹的凹凸。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开平10-104884号公报(权利要求书和(0029)段等)
专利文献2:WO2007/63933号公报
发明内容
发明要解决的问题
专利文献1提出的铁氧体颗粒中,在晶粒的表面形成的凹凸的优选的深度为0.5μm以下,另外,专利文献2提出的铁氧体颗粒中,颗粒表面的凹凸也为褶纹,因此认为随着长期使用,颗粒表面的覆盖树脂层整体均等地磨损。因此,不能充分地抑制载体的带电特性的降低。
本发明是鉴于这样的现有问题而做出的,其目的在于,提供一种覆盖树脂随着长期使用仍部分地残留在颗粒表面,能够抑制带电特性的降低的铁氧体颗粒。
另外,本发明的目的在于,提供一种稳定地维持带电性能的电子照相显影用载体和电子照相用显影剂。
进而,本发明的目的在于,提供一种高效地制造颗粒表面的凹凸度为特定范围、显露在颗粒表面的晶粒(グレイン)的大小的波动为规定范围的铁氧体颗粒的方法。
用于解决问题的方案
用于实现前述目的的本发明的铁氧体颗粒是将Mn铁氧体作为主相且含有Sr铁氧体的铁氧体颗粒,颗粒表面的凹凸度为2.5μm~4.5μm的范围,显露在颗粒表面的晶粒的大小的标准偏差为1.5μm~3.5μm的范围。
需要说明的是,本说明书中“凹凸度”和“标准偏差”是根据实施例中所示测定方法测定的值。
另外,根据本发明,提供一种电子照相显影用载体,其特征在于,前述铁氧体颗粒的表面被树脂覆盖。
进而,根据本发明,提供一种电子照相用显影剂,其包含前述电子照相显影用载体和调色剂。
另外,根据本发明,提供一种铁氧体颗粒的制造方法,其特征在于,其具有:将Fe成分原料、Mn成分原料、体积平均粒径(以下,有时简称为“平均粒径”)为1.0μm~4.5μm的Sr铁氧体颗粒投入到分散剂中而得到浆料的工序;对前述浆料进行喷雾干燥而得到造粒物的工序;以及对前述造粒物进行焙烧而得到焙烧物的工序。
另外,Sr铁氧体颗粒的添加量优选为2.5wt%~15wt%的范围。
发明的效果
对于本发明的铁氧体颗粒,覆盖树脂随着长期使用仍部分地残留在颗粒表面,能够抑制带电特性的降低。
本发明的电子照相显影用载体和电子照相用显影剂能够稳定地维持带电性能。
本发明的制造方法能够高效地制造颗粒表面的凹凸度为特定范围、显露在颗粒表面的晶粒的大小的波动为规定范围的铁氧体颗粒。
附图说明
图1是实施例1的铁氧体颗粒的SEM照片。
图2是示出Sr铁氧体颗粒的平均粒径和铁氧体颗粒表面的凹凸度的关系的图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于同和电子科技有限公司;同和铁粉创新有限公司,未经同和电子科技有限公司;同和铁粉创新有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201480018910.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。