[发明专利]一种定位AP的方法和装置

权利要求书

1.一种定位AP的方法，其特征在于，所述方法包括：

获取预先建立的AP指纹库，所述AP指纹库包括在多个测量点获取到的多条AP指纹，所述AP指纹包括对应测量点的位置信息、AP的MAC地址以及该AP的信号强度；

从所述AP指纹库中查找与待定位的AP的MAC地址相同的多条AP指纹；

根据查找到的各条AP指纹对应测量点的位置信息，计算所述各条AP指纹对应测量点之间的间距；

根据所述各条AP指纹对应测量点之间的间距，从查找到的所述多条AP指纹中查找目标AP指纹对应测量点的邻近AP指纹；

根据所述目标AP指纹对应测量点的位置信息以及所述邻近AP指纹对应测量点的位置信息，计算所述目标AP指纹对应测量点到所述邻近AP指纹对应测量点的方向，并根据所述目标AP指纹的信号强度以及所述邻近AP指纹的信号强度，计算所述目标AP指纹与所述邻近AP指纹的信号强度差；

根据所述目标AP指纹与所述邻近AP指纹的信号强度差，确定所述目标AP指纹的梯度大小，并根据所述目标AP指纹对应测量点到所述邻近AP指纹对应测量点的方向，确定所述目标AP指纹的梯度方向；

根据所述各条AP指纹的梯度大小和梯度方向，确定所述AP的水平位置。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述指纹库还包括垂直高度确定的其他AP对应AP指纹，所述方法还包括：

从所述AP指纹库中统计出垂直高度确定的其他AP的信号强度的高斯分布；

根据查找到的所述多条AP指纹的信号强度，计算查找到的所述多条AP指纹的信号强度的均值；

根据查找到所述多条AP指纹的信号强度的均值以及所述垂直高度确定的其他AP的信号强度的高斯分布，确定所述AP的垂直高度。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述邻近AP指纹包括距离所述目标AP指纹对应测量点最近的预设数目的AP指纹，所述根据所述目标AP指纹与所述邻近AP指纹的信号强度差，确定所述目标AP指纹的梯度大小，并根据所述目标AP指纹对应测量点到所述邻近AP指纹对应测量点的方向，确定所述目标AP指纹的梯度方向包括：

将位于所述目标AP指纹对应测量点相同方向上的所有邻近AP指纹的信号强度差求和得到所述目标AP指纹对应测量点在该方向上的信号强度差；

比较位于所述目标AP指纹对应测量点不同方向上的信号强度差，将最大的所述信号强度差作为所述目标AP指纹的梯度大小，并将该信号强度差所在的方向作为所述目标AP指纹的梯度方向。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标AP指纹对应测量点的位置信息以及所述邻近AP指纹对应测量点的位置信息，计算所述目标AP指纹对应测量点到所述邻近AP指纹对应测量点的方向包括：

将角度为2π的圆周空间划分为多个量化区间，每个量化区间分别对应一个量化方向；

确定所述目标AP指纹对应测量点到所述邻近AP指纹对应测量点的方向所位于的量化区间；

根据确定的所述目标AP指纹对应测量点到所述邻近AP指纹对应测量点的方向所位于的量化区间，将所述目标AP指纹对应测量点到所述邻近AP指纹对应测量点的方向处理得到一个量化方向；

所述根据所述目标AP指纹对应测量点到所述邻近AP指纹对应测量点的方向，确定所述目标AP指纹的梯度方向包括：

根据所述目标AP指纹对应测量点到所述邻近AP指纹对应测量点的所述量化方向，确定所述目标AP指纹的梯度方向。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据查找到的所述各条AP指纹的梯度大小和梯度方向，确定所述AP的水平位置包括：

根据所述各条AP指纹对应测量点之间的间距，将查找到的所述多条AP指纹划分为多个聚类；

根据各个聚类中各条AP指纹的梯度大小、梯度方向以及各条AP指纹对应测量点的位置信息，确定各个聚类中类首的梯度方向和参考位置；

根据所述各个聚类中类首的梯度方向和参考位置，确定所述AP的水平位置。