[发明专利]超声波探伤方法及超声波探伤装置有效
申请号: | 201480019613.8 | 申请日: | 2014-03-28 |
公开(公告)号: | CN105102975B | 公开(公告)日: | 2017-08-15 |
发明(设计)人: | 尾关孝文;四辻淳一;高田英纪;户村宁男 | 申请(专利权)人: | 杰富意钢铁株式会社 |
主分类号: | G01N29/06 | 分类号: | G01N29/06;G01N29/04 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 李辉,黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 超声波 探伤 方法 装置 | ||
1.一种超声波探伤方法,其特征在于,
该超声波探伤方法包含:
条件设定步骤,对应于被检体的种类设定界面回波检测阈值和门终点相对位置;
探伤信号获取步骤,将从所述被检体接收的超声波转换为电信号而获取探伤信号;
界面回波检测步骤,使用所述界面回波检测阈值检测出所述探伤信号的界面回波检出时刻;
缺陷回波检测门设定步骤,从基于所述界面回波检出时刻确定的基准时刻减去所述门终点相对位置,由此设定缺陷回波检测门的终点;以及
缺陷回波检测步骤,使用所述缺陷回波检测门内的探伤信号进行缺陷回波的检测。
2.根据权利要求1所述的超声波探伤方法,其特征在于,
在所述界面回波检测步骤中,在所述界面回波检测阈值的值为正时,在规定的界面回波检测门内所述探伤信号超过所述界面回波检测阈值的情况下,判定为检测出了界面回波,在所述界面回波检测阈值的值为负时,在规定的界面回波检测门内所述探伤信号低于所述界面回波检测阈值的情况下,判定为检测出了界面回波,并将检测出所述界面回波的时刻作为界面回波检出时刻。
3.根据权利要求1所述的超声波探伤方法,其特征在于,
在所述缺陷回波检测门设定步骤中,以所述基准时刻的每次测定的变化在规定的范围内的方式来设定所述基准时刻。
4.根据权利要求2所述的超声波探伤方法,其特征在于,
在所述缺陷回波检测门设定步骤中,以所述基准时刻的每次测定的变化在规定的范围内的方式来设定所述基准时刻。
5.根据权利要求1~4中的任意一项所述的超声波探伤方法,其特征在于,
在所述探伤信号获取步骤中,将从所述被检体接收的超声波转换为电信号而获取探伤信号,并临时存储所获取的规定次数的探伤信号,
在所述界面回波检测步骤中,对所述规定次数的各个探伤信号使用所述界面回波检测阈值来检测所述探伤信号的界面回波检出时刻,
在所述缺陷回波检测步骤中,使用从所述规定次数的探伤信号中的最新的探伤信号减去下述这样的信号所得到的探伤信号,来进行缺陷回波的检测:所述信号是以所述探伤信号的界面回波检出时刻为基准进行所述探伤信号的同步加法平均而得到的。
6.一种超声波探伤装置,其特征在于,
该超声波探伤装置具备:
探伤信号获取部,其将从被检体接收的超声波转换为电信号而获取探伤信号;
数据库,其记录有与所述被检体的种类相对应的界面回波检测阈值和门终点相对位置;
界面回波检测单元,其使用记录在所述数据库中的所述界面回波检测阈值检测所述探伤信号的界面回波检出时刻;
门设定单元,其从基于所述界面回波检出时刻决定的基准时刻减去记录在所述数据库中的所述门终点相对位置,由此设定缺陷回波检测门的终点;以及
缺陷回波检测单元,其使用所述缺陷回波检测门内的探伤信号进行缺陷回波的检测。
7.根据权利要求6所述的超声波探伤装置,其特征在于,
在所述界面回波检测阈值的值为正时,在规定的界面回波检测门内所述探伤信号超过所述界面回波检测阈值的情况下,所述界面回波检测单元判定为检测出了界面回波,并将检测出所述界面回波的时刻作为界面回波检出时刻,
在所述界面回波检测阈值的值为负时,在规定的界面回波检测门内所述探伤信号低于所述界面回波检测阈值的情况下,所述界面回波检测单元判定为检测出了界面回波,并将检测出所述界面回波的时刻作为界面回波检出时刻。
8.根据权利要求6所述的超声波探伤装置,其特征在于,
所述门设定单元以所述基准时刻的每次测定的变化在规定的范围内的方式来设定所述基准时刻。
9.根据权利要求7所述的超声波探伤装置,其特征在于,
所述门设定单元以所述基准时刻的每次测定的变化在规定的范围内的方式来设定所述基准时刻。
10.根据权利要求6~9中的任意一项所述的超声波探伤装置,其特征在于,
该超声波探伤装置还具备:
存储部,其临时存储所述探伤信号获取部所获取的多次的探伤信号;
同步加法单元,其基于所述界面回波检测单元检测出的界面回波检出时刻来排列所述探伤信号,并进行所述探伤信号的同步加法平均,由此形成减法用信号;以及
信号减法单元,其从存储于所述存储部的探伤信号中的最新的探伤信号减去所述减法用信号而形成减法处理后的探伤信号,
所述缺陷回波检测单元使用所述减法处理后的探伤信号来进行缺陷回波的检测。
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