[发明专利]用于谱滤波的基于泰伯效应的近场衍射有效
申请号: | 201480019691.8 | 申请日: | 2014-11-12 |
公开(公告)号: | CN105103238B | 公开(公告)日: | 2017-03-08 |
发明(设计)人: | E·勒斯尔;T·克勒 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | G21K1/06 | 分类号: | G21K1/06 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 李光颖,王英 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 滤波 基于 效应 近场 衍射 | ||
1.一种用于对X射线射束(B)进行谱滤波的光栅布置(100),包括:
色散元件(10),其包括棱镜,所述棱镜被配置为使所述X射线束(B)衍射成包括第一方向(D1)的第一射束分量(BC1)和包括第二方向(D2)的第二射束分量(BC2),所述第二方向相对于所述第一方向倾斜;
第一光栅(20),其被配置为生成所述第一射束分量(BC1)的第一衍射图样(DP1)和所述第二射束分量(BC2)的第二衍射图样(DP2),所述第二衍射图样(DP2)相对于所述第一衍射图样(DP1)移位;以及
第二光栅(30),其包括至少一个开口(31),所述至少一个开口沿从所述第一衍射图样(DP1)或所述第二衍射图样(DP2)的强度的最大值(MA)到最小值(MI)的线(d)对准。
2.根据权利要求1所述的光栅布置(100),其中,所述第一方向(D1)和所述第二方向(D2)是倾斜的,形成倾斜角(α+)。
3.根据权利要求1或2所述的光栅布置(100),其中,所述第一光栅(20)被配置为使所述第二衍射图样(DP2)沿与所述线(d)的方向相对应的方向相对于所述第一衍射图样(DP1)移位。
4.根据前述权利要求中的任一项所述的光栅布置(100),其中,所述第一射束分量(BC1)和/或所述第二射束分量(BC2)包括准单色X射线辐射。
5.根据前述权利要求中的任一项所述的光栅布置(100),其中,所述第一光栅(20)被配置为生成所述第一射束分量(BC1)的所述第一衍射图样(DP1)和所述第二射束分量(BC2)的所述第二衍射图样(DP2)作为近场衍射效应。
6.根据前述权利要求中的任一项所述的光栅布置(100),其中,借助于能量相关侧向移位使所述第二衍射图样(DP2)相对于所述第一衍射图样(DP1)移位。
7.根据前述权利要求中的任一项所述的光栅布置(100),其中,所述第一光栅(20)和/或所述第二光栅(30)包括周期性结构。
8.根据前述权利要求中的任一项所述的光栅布置(100),其中,所述第一光栅(20)和/或所述第二光栅(30)被配置为能以这样的方式移动,即所述至少一个开口(31)能沿从所述第一衍射图样(DP1)或所述第二衍射图样(DP2)的强度的所述最大值(MA)到所述最小值(MI)的所述线(d)移动。
9.根据前述权利要求中的任一项所述的光栅布置(100),其中,所述色散元件(10)和所述第一光栅(20)被集成,从而构成色散光栅(40)。
10.根据前述权利要求中的任一项所述的光栅布置(100),其中,所述色散元件(10)包括棱镜(50)的周期性结构,其中,所述棱镜(50)中的每个被配置用于使X射线射束(B)衍射成包括第一方向(D1)的所述第一射束分量(BC1)和包括所述第二方向(D2)的所述第二射束分量(BC2),并且其中,所述第二方向相对于所述第一方向倾斜。
11.根据前述权利要求中的任一项所述的光栅布置(100),其中,所述第一光栅(20)是微透镜光栅。
12.一种X射线系统(200),具有探测器(220)、适于生成X射线的多色谱的X射线源(210)、以及至少一个根据前述权利要求中的任一项所述的光栅系统(100)。
13.一种用于对X射线射束(B)进行谱滤波的方法,包括以下步骤:
-借助于包括棱镜的色散元件(10)使所述X射线射束(B)衍射(S1)成包括第一方向(D1)的第一射束分量(BC1)和包括第二方向(D2)的第二射束分量(BC2),所述第二方向相对于所述第一方向(D1)倾斜;
-借助于第一光栅(20)来生成(S2)所述第一射束分量(BC1)的第一衍射图样(DP1)和所述第二射束分量(BC2)的第二衍射图样(DP2),所述第二衍射图样(DP2)相对于所述第一衍射图样(DP1)移位;并且
-以这样的方式来将具有至少一个开口(31)的第二光栅(30)对准(S3),即所述至少一个开口(31)沿从所述第一衍射图样(DP1)或所述第二衍射图样(DP2)的强度的最大值(MA)到最小值(MI)的线(d)对准。
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