[发明专利]放射线图像检测装置有效

专利信息
申请号: 201480020443.5 申请日: 2014-01-24
公开(公告)号: CN105122084B 公开(公告)日: 2018-07-13
发明(设计)人: 山本晃永;老川智博;铃木裕树;宫本祐一;櫻井直人 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: G01T1/00 分类号: G01T1/00;G03B42/02;G21K4/00
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 杨琦;黄浩
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 侧面 成像板 棱镜 光检测元件 出射 放射线图像检测装置 反射光 激发光 入射 方式配置 相对配置 荧光光 传播 检测 配置
【说明书】:

放射线图像检测装置(20)包括:光检测元件(10),其检测荧光光;及棱镜(5),其配置在朝向成像板(IP)的激发光(EL)的光路上且光检测元件(10)与成像板(IP)之间。棱镜(5)作为表面而具有:侧面(5c),其与成像板(IP)相对;以及侧面(5a)及侧面(5b),其相对于侧面(5c)倾斜。棱镜(5)以如下方式配置:自侧面(5a)入射的激发光(EL)在内部传播并自侧面(5c)出射,且自侧面(5c)入射的来自成像板(IP)的反射光在内部传播并自侧面(5b)出射。光检测元件(10)与棱镜(5)的表面中的与来自成像板(IP)的反射光出射的区域不同的区域相对配置。

技术领域

本发明涉及放射线图像检测装置。

背景技术

蓄积性荧光体通过照射至蓄积性荧光体的激光激发而放出光。众所周知的是如下读取装置,其对蓄积性荧光体照射激光(激发光),并将自蓄积性荧光体放出的光通过光检测元件而转换为电信号(参照例如专利文献1)。

先前技术文献

专利文献

专利文献1日本专利特开平6-130526号公报

发明内容

发明所要解决的问题

本发明的目的在于,提供一种能抑制在光检测元件的激发光的检测的放射线图像检测装置。

解决问题的技术手段

本发明的一个观点的放射线图像检测装置为检测自记录介质放出的荧光光的放射线图像检测装置,该记录介质是通过对记录有放射线图像的记录介质照射激发光而记录放射线图像的,且该放射线图像检测装置包括:光检测元件,其检测荧光光;及棱镜,其以位于朝向记录介质的激发光的光路上且光检测元件与记录介质之间的方式配置;且棱镜具有作为表面的与记录介质相对的第一面、及相对于第一面倾斜的第二面及第三面,并且以如下方式配置:自第二面入射的激发光在内部传播并自第一面出射,且自第一面入射的来自记录介质的反射光在内部传播并自第二面或第三面出射,光检测元件与棱镜的表面中的与来自记录介质的反射光出射的区域不同的区域相对配置。

本发明的一个观点的放射线图像检测装置中,激发光自不与记录介质相对的第二面入射至棱镜,并自第一面出射。荧光光自第一面入射至棱镜,且在棱镜内传播并入射至光检测元件。自第一面入射至棱镜的反射光,自不与记录介质相对的第二面或第三面出射。光检测元件与棱镜的表面中的与反射光出射的区域不同的区域相对配置。因此,激发光不易入射至光检测元件。根据该放射线图像检测装置,可抑制光检测元件检测激发光。

也可为第三面是透过激发光的面,且棱镜以自第一面入射的来自记录介质的反射光自第三面出射的方式配置。该情形时,自第二面入射的激发光自第一面出射并照射至记录介质。自第一面入射至棱镜的反射光自第三面出射。由于光检测元件与棱镜的表面中的与反射光出射的区域不同的区域相对配置,因此激发光不易入射至光检测元件。因此,可确实地抑制光检测元件检测激发光。

也可为第三面是反射激发光的面,且棱镜以自第二面入射的激发光在第三面反射并自第一面出射,且自第一面入射的来自记录介质的反射光自第二面出射的方式配置。该情形时,自第二面入射的激发光在第三面反射之后自第一面出射并照射至记录介质。自第一面入射至棱镜的反射光自第二面出射。由于光检测元件与棱镜的表面中的与反射光出射的区域不同的区域相对配置,因此激发光不易入射至光检测元件。因此,可确实地抑制光检测元件检测激发光。

光检测元件也能以与第二面中的与激发光入射的区域不同的区域相对的方式配置。该情形时,由于光检测元件以与第二面中的与激发光入射的区域不同的区域相对的方式配置,因此激发光不易入射至光检测元件。因此,可确实地抑制光检测元件检测激发光。

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