[发明专利]溅射靶及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201480020879.4 申请日: 2014-04-10
公开(公告)号: CN105121695A 公开(公告)日: 2015-12-02
发明(设计)人: 张守斌;梅本启太;小路雅弘 申请(专利权)人: 三菱综合材料株式会社
主分类号: C23C14/34 分类号: C23C14/34;C22C9/00
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 康泉;王珍仙
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 溅射 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种溅射靶,其为具有如下成分组成的烧结体,即作为金属元素含有Ga:10~40原子%、Na:0.1~15原子%,且残余部分由Cu及不可避免杂质构成,所述溅射靶的特征在于,

在所述烧结体中,以由硫酸钠、亚硫酸钠、硒酸钠及亚硒酸钠中的至少1种构成的Na化合物来含有Na,

所述烧结体具有Na化合物相分散的组织,所述Na化合物相的平均粒径为10.0μm以下。

2.根据权利要求1所述的溅射靶,其中,

在所述烧结体中,0.05mm2以上的Na化合物的凝集体在靶表面的1cm2面积内为平均1个以下。

3.根据权利要求1或2所述的溅射靶,其中,

所述烧结体的理论密度比为90%以上,抗折强度为100N/mm2以上,体积电阻率为lmΩ·cm以下。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的溅射靶,其中,

所述烧结体中的金属相的平均晶体粒径为20μm以下。

5.一种溅射靶的制造方法,其特征在于,具有:

混合由硫酸钠、亚硫酸钠、硒酸钠及亚硒酸钠中的至少1种构成的Na化合物粉末和Cu-Ga粉末而制作混合粉末的工序;及烧结所述混合粉末而制作烧结体的工序,

所述Cu-Ga粉末由Cu-Ga合金粉末构成或者由Cu-Ga合金粉末和Cu粉末构成,平均粒径为1~45μm,粒径30μm以下的粒子占所述Cu-Ga粉末的粉末总重量的50质量%以上。

6.根据权利要求5所述的溅射靶的制造方法,其中,

在制作所述混合粉末的工序之前,具有在70℃以上的温度下干燥所述Na化合物粉末的工序。

7.根据权利要求5或6所述的溅射靶的制造方法,其中,

在制作所述混合粉末的工序之后,具有在70℃以上的温度下干燥所述混合粉末的工序。

8.根据权利要求5至7中任一项所述的溅射靶的制造方法,其中,

在烧结所述混合粉末的工序中,在非氧化性气氛或真空中烧结所述混合粉末。

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