[发明专利]用于调试自动化器件测试的程序的计算机实现方法及系统

说明书

本文公开了一种用于调试自动化器件测试的测试程序的方法。该方法包括接收对在第一调试会话期间修改的至少一个经修改的测试程序进行更新的命令并且保存测试计划的状态信息，其中该状态信息包括关于断点进入位置的信息，并且其中经修改的测试程序在测试计划内被调用。该方法随后包括暂停执行测试计划并且卸载经修改的测试程序。该方法还包括编译经修改的测试程序以产生编译文件并且然后使用编译文件将测试程序重新加载到测试计划内。最后，该方法包括在第二调试会话中重新开始执行经修改的测试程序并且在第二调试会话期间，在与断点进入位置相对应的断点处中断执行。

技术领域

本发明的实施例总体上涉及自动化器件测试，并且更具体地涉及用户友好且有效率的用于调试自动化器件测试的测试程序的方法和系统。

背景技术

自动化测试设备(ATE)可以是对器件、半导体薄片或模具等进行测试的任何测试组件。ATE组件可以用于执行自动化测试，自动化测试快速进行测量并且生成测试结果，然后测试结果可以被分析。ATE组件可以是从联接至计量器的计算机系统到复杂自动化测试组件的任何事物，可以包括定制的专用计算机控制系统和许多能够自动测试电子设备零件和/或半导体的不同测试仪器。自动测设设备(ATE)常用于电芯片制造领域。ATE 系统既减少了花费在测试器件以确保器件按照设计的那样发挥功能上的时间量，又用作诊断工具以在给定器件到达消费者手中之前确定其内存在故障部件。

在测试器件或产品时，例如，在生产之后，除其他事项以外，实现产品高质量、对器件或产品性能的估计、关于制造工艺的反馈和最终客户高满意度是至关重要的。通常进行多项测试以便保证器件或产品正确功能。因为测试过程费用高昂，除了确保器件的性能之外，最大化测试速度和生产率同样是重要的。

测试计划或测试程序包括所有对ATE系统进行半导体器件测试所必要的用户自定义数据和控制流程。更确切地说，测试计划是一种程序，其中满足器件规格、测试条件和测试算法的组合以及测试流程的测试条件用测试仪软件语言进行描述。测试程序中的主控制流程被称为测试程序流程，其指定待应用于DUT的单项测试的顺序、以及测试将被应用的顺序(其取决于单项测试的结果)。

当为DUT写入测试程序时，通常该程序的主要部分是用于器件测试的“数据”，其余的是程序代码，其自身实现了测试方法。该数据与DUT相关(例如，电源条件、信号电压条件、计时条件等)。该测试代码可以由将指定的器件条件加载到测试仪硬件的方法、还有实现用户指定的目标(如数据记录等)所需要的方法组成。ATE框架还可以提供独立于硬件的测试和允许用户执行DUT测试编程任务的测试仪对象模型。

由于测试方法在器件测试质量和测试仪生产率中是重要的组成部分，所以其通常对最终用户保密。这种分离使得系统运行更安全。进一步地，为了增加测试代码的可重用性，这种代码应独立于任何器件特定数据(例如，引脚名、激励数据等)或器件测试特定数据(例如，DC单元条件、测量引脚、目标引脚数量、图形文件名、图形程序地址等)。如果用于测试的代码用这些类型的数据编译，则测试代码的可重用性会降低。因此，应使得任何器件特定数据或器件测试特定数据在外部作为代码执行期间的输入来可供用于测试代码。

在常规ATE测试仪软件中，“测试类”实现了具体测试类型的测试数据和代码的分离(并且因此实现了代码的可重用性)。这种测试类可以被认为是用于单独测试实例的“模板”，这些实例仅基于器件特定数据和/或器件测试特定数据彼此不同。测试类通常在测试计划文件中进行指定。每个测试类通常实施特定类型的器件测试或器件测试的设置。例如，测试仪软件可以提供简单测试类以实施功能测试、AC参数测试以及DC参数测试。相应地，测试类是测试的模板。在测试类本身中并未描述与器件相关的测试条件。仅描述了用于使用该测试系统执行测试的算法。

测试类允许用户通过提供用于为该项测试的具体实例指定选项的参数来配置类行为。例如，用于实施功能测试的测试类可以提供用于指定在正被测试的DUT上执行的测试模式的参数。其还可以提供用来为测试指定等级和定时条件的参数。为这些参数指定不同的值允许用户创建功能测试的不同实例。在一实施例中，测试类用常规编程语言(如C++)开发。