[发明专利]从交互式图形用户界面中自动生成测试类预编译头

说明书

提出了一种用自动测试设备(ATE)执行测试的方法。该方法包括利用图形用户界面获得有关测试类的信息。进一步，其包括自动生成第一头文件，其中，第一头文件包括有关测试类的信息。其次，其包括将第一头文件导入可操作以利用测试仪操作系统执行的测试计划，其中，测试计划包括测试类的实例。其进一步包括从第一头文件中自动生成第二头文件，其中，第二头文件是测试类的头文件。该方法还包括利用测试仪操作系统验证测试计划。最后，该方法包括将测试计划和编译模块加载到测试仪操作系统中，以供执行，其中，编译模块是测试类的编译译文。

技术领域

本发明的实施例总体涉及自动器件测试，更特别地，涉及为自动器件测试创建测试计划和测试类的用户友好且自动的方法。

背景技术

自动测试设备(ATE)可以是对器件、半导体晶片或管芯等执行测试的任何测试组件。ATE组件可用于执行自动测试，可快速执行测量，并生成可分析的测试结果。ATE组件可以是从与计量表耦合的计算机系统到复杂自动测试组件的任何组件，可包括定制专用计算机控制系统和能自动测试电子部件和/或半导体的多种不同测试仪器。自动测试设备(ATE)通常用于电气芯片制造领域。ATE系统减少了对器件进行测试所花费的时间以确保所述器件按照设计执行功能，并可作为诊断工具，用于确定指定器件在到达消费者手中之前其内部是否存在故障部件。

在测试器件或产品的过程中，例如，在生产之后，达到较高产品质量，获得器件或产品性能的评估结果，获得关于制造过程的反馈并最终获得较高客户满意度，这些十分重要。通常会执行多项测试，以确保器件或产品的功能正确，这种器件或产品在测试用语中一般称为被测器件(“DUT”)。该多项测试一般是由用户加载到ATE系统中的测试计划的一部分。测试计划起到在DUT上进行测试的蓝图的作用。可将多项测试编译到测试流程中，其中，测试流程可分为不同的测试组，测试组包含用于对器件或产品进行测试的一项或多项测试。例如，可利用包括接触测试、电流-电压测试、逻辑测试、速度测试、应力测试和功能测试的测试流程对半导体器件进行测试。

在典型的ATE系统中，用户可利用应用编程接口对指定测试计划开发测试类。加载测试计划时，ATE系统控制器对测试类进行验证分析，以确定测试流程中的所有节点是否都可根据用户期望进行适当配置。为了验证测试计划，ATE系统控制器需要测试类的预编译头文件。各个测试类的预编译头文件主要为ATE系统控制器描述测试类及其各个参数，以执行验证。预编译头文件还用于为测试类本身生成C++头文件，在用户开发的测试类与测试计划作者开发的测试计划之间提供公用定义桥。

在常规ATE系统中，创建预编译头文件很麻烦，因为用户一般必须手动为预编译头文件开发程序代码，这会耗费大量时间，因为用户必须学习预编译头文件所需的特殊格式或语法。另外，这个过程易于出错，因为代码语法不具有用户友好性，而是处于较低的机器级。

发明内容

由此，需要一种ATE系统，为用户提供图形用户界面(GUI)，使用户能用简单的拖放程序定义其测试类的参数，以与GUI交互，从而便于进行预编译头文件的自动开发。

在一个实施例中，提出了一种用自动测试设备(ATE)执行测试的方法。所述方法包括利用图形用户界面获得有关至少一个测试类的信息。此外，其包括自动生成第一头文件，其中，所述第一头文件的内容包括有关至少一个测试类的信息。其次，所述方法包括将所述第一头文件导入可操作以利用测试仪操作系统执行的测试计划，其中，所述测试计划包括所述至少一个测试类的实例。其还包括从所述第一头文件中自动生成第二头文件，其中，所述第二头文件是所述至少一个测试类的头文件，并且其中，所述第二头文件和所述至少一个测试类是用公用编程语言编制的。所述方法还包括利用测试仪操作系统验证测试计划。最后，所述方法包括将所述测试计划和至少一个编译模块加载到所述测试仪操作系统中，以供执行，其中，所述至少一个编译模块中的每个编译模块是所述至少一个测试类中的各个测试类的编译译文，并且其中，所述第二头文件用于生成所述至少一个编译模块。