[发明专利]位置传感器在审

专利信息
申请号: 201480022743.7 申请日: 2014-04-23
公开(公告)号: CN105144054A 公开(公告)日: 2015-12-09
发明(设计)人: 吉冈良真;清水裕介 申请(专利权)人: 日东电工株式会社
主分类号: G06F3/042 分类号: G06F3/042;G02B6/12;G02B6/122
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 位置 传感器
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种对按压位置进行光学检测的位置传感器。

背景技术

以往提出有对按压位置进行光学检测的位置传感器(例如参照专利文献1)。该位置传感器将作为光路的多个芯部纵横配置并将这些芯部的周缘部用包层覆盖而形成为片状,使来自发光元件的光射入到各所述芯部的一端面,并在各芯部的另一端面处利用受光元件检测经过各芯部内部传递来的光。然后,在用手指等按压该片状位置传感器表面的局部时,该按压部分的芯部被压扁(芯部在按压方向上截面积减小),在该按压部分的芯部处,光传递量减少,所述受光元件的光检测量下降,因此能够检测到所述按压位置。

专利文献

专利文献1:日本特开平8-234895号公报

发明要解决的问题

但是,根据情况的差异,有时无法检测准确的按压位置。

因此,本发明的发明人研究了其原因,结果发现存在所述受光元件可识别波长的光会从位置传感器的外部透过包层而进入芯部内,并被所述受光元件检测到的情况。即,此时,由于所述受光元件除了会检测到来自发光元件的光,还会检测到所述来自外部的光(外部干扰光),因此,该外部干扰光成为噪声,从而无法检测准确的按压位置。

发明内容

本发明是鉴于上述情况完成的,其目的在于提供一种受光元件不检测来自外部的光的位置传感器。

用于解决问题的方案

为了实现上述目的,本发明的位置传感器构成为,包括:片状的光波导路,其是在片状的下包层的表面将多个线状芯部配置形成为网格状、并以包覆这些芯部的状态以片状形成上包层而成;发光元件,其与所述芯部的一端面相接连;以及受光元件,其与所述芯部的另一端面相接连,该位置传感器根据由按压所述光波导路的外表面的任意部位而引起的芯部的光传递量的变化来确定按压部位,并且,所述光波导路的、来自该位置传感器的外部的光所能到达的外表面部分由用于遮挡所述受光元件可识别波长的光的光遮挡层包覆。

发明的效果

本发明的位置传感器中,所述光波导路的、来自外部的光所能到达的外表面的部分,由用于遮挡所述受光元件可识别波长的光的光遮挡层包覆。因此,所述受光元件可识别波长的光不会从外部进入光波导路的内部,从而受光元件不会检测该来自外部的光。其结果,所述受光元件能够适当地检测光,能够检测准确的按压位置。

特别是,在所述受光元件的外表面也被所述光遮挡层包覆的情况下,还能够防止所述受光元件可识别波长的光从外部透过所述受光元件。因此,能够更加可靠地使所述受光元件不检测所述来自外部的光,从而提高按压位置的检测精度。

附图说明

图1示意地表示本发明的位置传感器的第1实施方式,图1的(a)是其俯视图,图1的(b)其主要部分的放大剖视图。

图2是示意地表示本发明的位置传感器的第2实施方式的、主要部分的放大剖视图。

图3是示意地表示本发明的位置传感器的第3实施方式的、主要部分的放大剖视图。

图4是示意地表示本发明的位置传感器的第4实施方式的、主要部分的放大剖视图。

图5的(a)~(f)是示意地表示所述位置传感器的网格状芯部的交叉方式的放大俯视图。

图6的(a)是示意地表示连续交叉部中的光的行进路径的放大俯视图,图6的(b)是示意地表示不连续交叉部中的光的行进路径放大俯视图。

具体实施方式

下面,基于附图对本发明的实施方式进行详细说明。

图1的(a)是表示本发明的位置传感器的第1实施方式的俯视图,图1的(b)是将该受光元件的部分剖面放大示出的图。本实施方式的位置传感器A包括:四边形片状的光波导路W,其是由四边形片状的下包层1和四边形片状的上包层3夹持网格状芯部2而成;发光元件4,其与用于形成所述网格状芯部2的线状芯部2的一端面相接连;以及受光元件5,其与所述线状芯部2的另一端面相接连。并且,从所述发光元件4发出的光,从所述芯部2中通过,而由所述受光元件5接收。另外,在本实施方式中,位置传感器A的整体(光波导路W的整个外表面、发光元件4的整个外表面以及受光元件5的整个外表面)由用于遮挡所述受光元件5可识别波长的光的光遮挡片(光遮挡层)S包覆。此外,在图1的(a)中,以虚线示出芯部2,虚线的粗细表示芯部2的粗细。另外,在图1的(a)中,省略图示芯部2的数量。并且,图1的(a)的箭头表示光的行进方向。

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