[发明专利]磁铁装置及磁共振成像装置

权利要求书

1.一种磁铁装置，其特征在于，具备：

对置地配置的一对大致圆盘状的磁极；以及

侧视呈C字或U字形状且该C字或U字形状的两端部与上述磁极接近地配置的磁轭，

上述磁轭具有与上述磁极接近地对置的磁轭侧对置部，

上述磁轭侧对置部具有：

中央带区域，其包含大致平分上述磁轭的铅垂对称面的一部分；以及

两侧带区域，其从上述铅垂对称面离开而位于上述中央带区域两侧，

在上述磁轭侧对置部的从与上述磁极接近地对置的磁轭侧对置表面起的高度中，上述中央带区域比上述两侧带区域高，

上述中央带区域比上述两侧带区域靠近上述磁极的外周。

2.一种磁铁装置，其特征在于，具备：

对置地配置的一对大致圆盘状的磁极；以及

侧视呈C字或U字形状且该C字或U字形状的两端部与上述磁极接近地配置的磁轭，

上述磁轭具有与上述磁极接近地对置的磁轭侧对置部，

上述磁轭侧对置部具有：

中央带区域，其包含大致平分上述磁轭的铅垂对称面的一部分；以及

两侧带区域，其从上述铅垂对称面离开而位于上述中央带区域两侧，

在上述磁轭侧对置部的从与上述磁极接近地对置的磁轭侧对置表面起的高度中，上述中央带区域比上述两侧带区域高，

从上述磁轭侧对置部到上述磁极的外周的距离随着靠近上述磁轭侧对置部的前端而连续地减小。

3.根据权利要求1或2所述的磁铁装置，其特征在于，

上述磁轭侧对置部的相对于上述铅垂对称面的法线方向的宽度随着靠近上述磁轭侧对置部的前端而广义单调减小，并且该宽度的最大值和最小值不同。

4.根据权利要求1或2所述的磁铁装置，其特征在于，

上述磁轭侧对置部的从上述磁轭侧对置表面起的高度随着从上述铅垂对称面远离而广义单调减小，并且该高度的最大值和最小值不同。

5.根据权利要求1或2所述的磁铁装置，其特征在于，

上述磁轭侧对置部的从磁轭侧对置表面起的高度随着靠近上述磁轭侧对置部的前端而广义单调减小，

并且上述磁轭侧对置部的与上述磁轭侧对置表面对置的外侧表面向外侧凸起。

6.根据权利要求1或2所述的磁铁装置，其特征在于，

上述磁轭具有连结一对上述磁轭侧对置部的磁轭连结部，

从一对上述磁极所共通的中心轴上，且在以上述中心轴为法线的平面上观察上述磁轭连结部时的视角比0度大且在180度以下。

7.根据权利要求1或2所述的磁铁装置，其特征在于，

上述磁轭侧对置部的相对于上述铅垂对称面的法线方向的宽度随着靠近上述磁轭侧对置部的前端而连续地减小。

8.根据权利要求1或2所述的磁铁装置，其特征在于，

与上述磁极接近地对置的上述磁轭侧对置部的从磁轭侧对置表面起的高度随着从上述铅垂对称面远离而连续地减小。

9.根据权利要求1或2所述的磁铁装置，其特征在于，

上述磁轭侧对置部的相对于上述铅垂对称面的法线方向的宽度随着靠近上述磁轭侧对置部的前端而阶段性地减小。

10.根据权利要求1或2所述的磁铁装置，其特征在于，

与上述磁极接近地对置的上述磁轭侧对置部的从磁轭侧对置表面起的高度随着从上述铅垂对称面远离而阶段性地减小。

11.根据权利要求1或2所述的磁铁装置，其特征在于，

具备与一对上述磁极接近地配置的一对大致圆环状的超导线圈。

12.根据权利要求1或2所述的磁铁装置，其特征在于，

具备与一对上述磁极接近地配置的一对大致圆盘状的永久磁铁。

13.一种磁共振成像装置，其特征在于，具有：

权利要求1至12中任一项所述的磁铁装置；以及

将被检者搬送到一对磁极之间的床台，

上述磁铁装置在一对上述磁极之间产生均匀的静磁场而形成摄像空间。