[发明专利]防护膜组件及含有其的EUV曝光装置有效

专利信息
申请号: 201480028625.7 申请日: 2014-05-20
公开(公告)号: CN105229776B 公开(公告)日: 2019-05-03
发明(设计)人: 小野阳介;高村一夫 申请(专利权)人: 三井化学株式会社
主分类号: H01L21/027 分类号: H01L21/027;G03F1/24;G03F1/62
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 金鲜英;涂琪顺
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 防护 组件 含有 euv 曝光 装置
【权利要求书】:

1.一种防护膜组件,其包括波长550nm的光的折射率n为1.9~5.0的防护膜以及贴附了所述防护膜的防护膜组件框,

所述防护膜在组成中包含30摩尔%~100摩尔%的碳以及0摩尔%~30摩尔%的氢,

所述防护膜的拉曼光谱中的2D带与G带的强度比,即2D带的强度/G带的强度为1以下,或者2D带与G带的强度分别为0,

所述防护膜包含马赛克扩散为5.0以下的石墨膜。

2.如权利要求1所述的防护膜组件,所述防护膜的厚度为10nm~120nm。

3.如权利要求1所述的防护膜组件,所述防护膜是对高分子膜赋予高能量而获得的。

4.如权利要求3所述的防护膜组件,所述高分子膜为聚酰亚胺膜。

5.一种EUV曝光装置,其包括EUV光源、光学系统以及原版,

将来自所述EUV光源的光经由所述光学系统而引导至所述原版,

在所述原版的光入射面设置有权利要求1所述的防护膜组件。

6.一种曝光原版,其包括:

原版;以及

安装在所述原版的权利要求1所述的防护膜组件。

7.一种曝光方法,其包括下述步骤:

从EUV光源,使EUV通过权利要求6所述的曝光原版的所述防护膜而照射至所述原版;以及

使所述原版反射的EUV通过所述防护膜而照射至感应基板,从而将感应基板曝光为图案状。

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