[发明专利]使用组装后过程交互印记来检测组装故障的方法和装置有效
申请号: | 201480028747.6 | 申请日: | 2014-03-26 |
公开(公告)号: | CN105229548B | 公开(公告)日: | 2018-04-06 |
发明(设计)人: | 汪建军;T·A·福尔布里吉;J·豪林;G·罗萨诺;D·A·鲍尔内;张飚;A·R·加尔西亚 | 申请(专利权)人: | ABB技术有限公司 |
主分类号: | G05B19/418 | 分类号: | G05B19/418;G05B23/02;G01R31/28 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所11256 | 代理人: | 王茂华,庞淑敏 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 使用 组装 过程 交互 印记 检测 故障 方法 装置 | ||
1.一种用于检测生产制品的自动化过程的成功的方法,包括:
使用所述自动化过程来生产统计上数目很大的成功制品和失败制品;
使所述成功制品和所述失败制品中的每个制品与测试平台相交互,以测量指示所述成功制品和所述失败制品的交互印记;
计算在所述成功制品的所述交互印记与所述失败制品的所述交互印记之间的差异的相关性;
获得针对在所述成功制品和所述失败制品被生产之后所生产的附加制品的交互印记;以及
相对于所计算的所述成功制品和所述失败制品交互印记的所述相关性,来分析针对在所述成功制品和所述失败制品被生产之后所生产的所述附加制品而获得的所述交互印记,以自动地将在所述成功制品和所述失败制品被生产之后所生产的所述附加制品分类为成功或失败。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述交互使所述制品与安装在所述测试平台上面的力传感器接触,以获得受力印记。
3.根据权利要求1所述的方法,其中通过使用位移传感器来测量所述制品的位移来获得所述交互印记。
4.根据权利要求1所述的方法,其中所述相关性计算使用支持向量机(SVM)。
5.根据权利要求1所述的方法,其中在计算在所述成功制品的所述交互印记与所述失败制品的所述交互印记之间的所述差异的所述相关性之前,将所述成功制品和所述失败制品的所述交互印记进行归一化。
6.根据权利要求1所述的方法,其中在计算在所述成功制品的所述交互印记与所述失败制品的所述交互印记之间的所述差异的所述相关性之前,使用主分量分析(PCA)。
7.一种用于检测生产制品的自动化过程的成功的方法:
计算在统计上数目很大的成功制品的交互印记与统计上数目很大的失败制品的交互印记之间的差异的相关性;
获得针对在成功制品的交互印记与失败制品的交互印记之间的所述差异的所述相关性被计算之后所生产的制品的交互印记;以及
相对于所计算的所述成功制品和所述失败制品交互印记的所述相关性,来分析针对在成功制品的交互印记和失败制品的交互印记之间的差异的所述相关性被计算之后所生产的所述制品而获得的所述交互印记,以自动地将在成功制品的交互印记与失败制品的交互印记之间的差异的所述相关性被计算之后所生产的所述制品分类为成功或失败。
8.一种用于通过测试使用生产制品的自动化过程而生产的统计上数目很大的成功制品和失败制品来检测所述自动化过程的成功的方法,所述方法包括:
使所述成功制品和所述失败制品中的每个制品与测试平台相交互,以测量指示所述成功制品和所述失败制品的交互印记;
计算在所述成功制品的所述交互印记与所述失败制品的所述交互印记之间的差异的相关性;以及
通过改变每个所述成功制品和所述失败制品与所述测试平台的所述交互而在所述交互步骤中具有改变的情况下,重复所述生产、所述交互和所述计算的步骤,以使得在所述成功制品的所述交互印记和所述失败制品的所述交互印记之间的所述差异的所述相关性最小化。
9.根据权利要求8所述的方法,其中在所述交互步骤中具有变化的情况下重复所述生产、所述交互和所述计算的步骤以使所述相关性差异最小化在所述最小化满足用于所述相关性差异的预定准则时结束。
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