[发明专利]用于优化存储设备的寿命的方法和装置有效
申请号: | 201480030160.9 | 申请日: | 2014-06-18 |
公开(公告)号: | CN105264613B | 公开(公告)日: | 2020-01-17 |
发明(设计)人: | 明运晨 | 申请(专利权)人: | 马维尔国际贸易有限公司 |
主分类号: | G11C16/34 | 分类号: | G11C16/34 |
代理公司: | 11256 北京市金杜律师事务所 | 代理人: | 酆迅;陈颖 |
地址: | 巴巴多斯*** | 国省代码: | 巴巴多斯;BB |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 优化 存储 设备 寿命 方法 装置 | ||
1.一种用于优化存储设备的寿命的方法,所述方法包括:
接收用于将数据存储到所述存储设备的请求,其中所述存储设备包括多个区域;
确定所述多个区域的第一组区域与第一错误测量阈值关联,所述第一错误测量阈值比与所述多个区域的第二组区域关联的第二错误测量阈值更低;
基于所述确定检查来自所述第一组区域中的第一可用区域的可用性;
当所述检查揭示可用性时,将所述数据的第一部分存储到所述第一可用区域;以及
当所述检查揭示针对所述第一组的所述第一可用区域不足以存储所述数据时,将所述数据的至少第二部分存储到来自所述第二组区域的第二可用区域。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述多个区域中的每个区域与磨损水平关联还包括响应于将所述数据的所述第一部分存储到所述第一可用区域来调整与所述第一可用区域关联的所述磨损水平。
3.根据权利要求2所述的方法,还包括:
读取被存储到所述第一可用区域的所述数据;
计算代表多少个错误由从所述第一可用区域读取所述数据而产生的错误数目;以及
响应于确定所述错误数目大于与所述第一组区域关联的所述错误测量阈值,从所述第一组区域向所述第二组区域移动所述第一可用区域。
4.根据权利要求2所述的方法,还包括响应于向不同组移动所述第一可用区域来重置与所述区域关联的所述磨损水平。
5.根据权利要求2所述的方法,其中所述磨损水平代表擦除计数、编程-擦除(P/E)周期和在读取操作中出现的错误位数目中的至少一个。
6.根据权利要求1所述的方法,还包括:
响应于确定第一解码技术未能解码在所述第一可用区域中存储的所述数据,确定第二解码技术是否成功地解码在所述第一可用区域中存储的所述数据,其中所述第二解码技术比所述第一解码技术更复杂;以及
响应于确定所述第二解码技术成功地解码所述数据,从所述第一组区域向所述第二组区域移动所述第一可用区域。
7.根据权利要求6所述的方法,其中所述第一解码技术和所述第二解码技术包括低密度奇偶校验(LDPC)错误纠正。
8.根据权利要求1所述的方法,还包括:
标识与用于存储所述数据的所述请求关联的大小;以及
确定在所述第一组中的所述区域的大小是否至少对应于标识的所述大小。
9.根据权利要求8所述的方法,还包括:
响应于确定所述第一组中的所述区域的所述大小少于标识的所述大小,选择所述存储设备的在所述第二组区域而不是所述第一组区域中的区域作为所述第一可用区域。
10.根据权利要求1所述的方法,其中所述错误测量阈值代表读取错误的数目和用来解码从所述区域的给定的区域读取的数据的解码复杂度水平中的至少一个。
11.一种用于优化存储设备的寿命的系统,所述系统包括:
控制电路装置,被配置为:
接收用于将数据存储到所述存储设备的请求,其中所述存储设备包括多个区域;
确定所述多个区域的第一组区域与第一错误测量阈值关联,所述第一错误测量阈值比与所述多个区域的第二组区域关联的第二错误测量阈值更低;
基于所述确定检查来自所述第一组区域中的第一可用区域的可用性;
当所述检查揭示可用性时,将所述数据的第一部分存储到所述第一可用区域;以及
当所述检查揭示来自所述第一组的所述第一可用区域不足以存储所述数据时,将所述数据的至少第二部分存储到来自所述第二组区域的所述第二可用区域。
12.根据权利要求11所述的系统,其中所述多个区域中的每个区域与磨损水平关联,并且其中所述控制电路装置还被配置为响应于将所述数据存储到所述第一可用区域来调整与所述第一可用区域关联的所述磨损水平。
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