[发明专利]用于测定水分含量的物位测量仪

权利要求书

1.一种用于测定存储材料的物位的物位测量仪，其包括：

射频单元(101、502)，其用于产生测量信号(102、512)；

信号处理单元(106、504)，其用于根据所述测量信号的回波曲线(406、507)来测定所述存储材料的物位；及

温度测量装置(706、707)，其用于测量温度值以便测定温度；

其中，所述物位测量仪被额外地设计成根据所述回波曲线来测定所述存储材料的水分含量，并且

其中，所述物位测量仪被设计成使用所测量的温度值来改善所述水分含量的测定准确性。

2.根据权利要求1所述的物位测量仪，其还包括：

两线式接口(109、506)，

其中，所述物位测量仪被设计成经由所述两线式接口被供电并经由所述两线式接口输出从由所测量的物位和所测量的水分含量值组成的群组中选择的至少一个测量值。

3.根据权利要求1或2所述的物位测量仪，

其中，所述测量信号为FMCW信号。

4.根据权利要求1或2所述的物位测量仪，

其中，所述测量信号为电磁脉冲。

5.根据前述权利要求中任一项所述的物位测量仪，其还包括：

数据接口(410)，

其中，所述物位测量仪被设计成经由所述两线式接口被供电并经由所述两线式接口输出从由所测量的物位和所测量的水分含量值组成的群组中选择的第一测量值；并且

其中，所述物位测量仪被设计成经由所述数据接口输出从由所测量的物位和所测量的水分含量值组成的群组中选择的第二测量值。

6.根据前述权利要求中任一项所述的物位测量仪，其被设计为将空间自由辐射电磁波用作所述测量信号的测量仪。

7.根据权利要求1-5中任一项所述的物位测量仪，其被设计为将受引导微波用作所述测量信号的测量仪。

8.根据权利要求7所述的物位测量仪，其包括：

波导设备(202、601、602)，其包括沿着所述波导设备的纵向延伸方向彼此间隔开的多个反射器(603)，

其中，所述物位测量仪被设计成根据所述回波曲线并沿着所述波导设备来测定水分分布。

9.一种用于测定存储材料的物位的方法，其包括如下步骤：

产生测量信号(102、512)；

根据所述测量信号的回波曲线(406、507)来测定所述存储材料的物位；

测量温度值以便测定温度；及

根据所述回波曲线，使用所述温度值来测定所述存储材料的水分含量。

10.根据权利要求9所述的方法，其还包括如下步骤：

经由4...20mA两线式接口向用于执行所述方法的仪器供电。

11.根据权利要求9或10所述的方法，其还包括如下步骤：

经由所述两线式接口输出从由所测量的物位和所测量的水分含量值组成的群组中选择的至少一个测量值。

12.一种程序，当在处理器上执行上，所述程序命令所述处理器执行如下步骤：

根据测量信号的回波曲线(406、507)来测定存储材料的物位；及

根据所述回波曲线，使用温度值来测定所述存储材料的水分含量。

13.一种存储有程序的机器可读介质，当在处理器上执行时，所述程序命令所述处理器执行如下步骤：

根据测量信号的回波曲线(406、507)来测定存储材料的物位；及

根据所述回波曲线，使用温度值来测定所述存储材料的水分含量。