[发明专利]验证设备和方法

权利要求书

1.一种可操作为确定聚合物膜的真实性的验证设备，包括基于光学的双折射率测量布置，所述基于光学的双折射率测量布置可操作为从包括与所述膜的平面所成的非垂直角的第一角度、以及第二角度和第三角度中的至少一个来测量受所述膜的双折射率特性影响的第一效应；并且其中所述设备可操作为：

将表示从所述第一角度测得的所述第一效应的值或值范围与表示指定的第一效应的值或值范围相比较，该指定的第一效应对应于真实聚合物膜针对所述第一角度的预定双折射率特性；

将表示从所述第二角度和所述第三角度中的所述至少一个测得的所述第一效应的值或值范围与表示指定的第一效应的值或值范围相比较，该指定的第一效应对应于真实聚合物膜针对相应的第二角度和/或第三角度的预定双折射率特性；以及

基于所述比较来输出指示所述膜的真实性或其它方面的真实性信号。

2.根据权利要求1所述的设备，其中所述第二角度包括与所述膜的平面所成的非垂直角，且所述第三角度包括与所述膜的平面所成的垂直角。

3.根据权利要求1或2所述的设备，其中所述设备可操作为区分由气泡工艺制成的膜和由不同种工艺制成的膜。

4.根据前述权利要求中的任一项所述的设备，其中所述基于光学的双折射率测量布置包括：发射器，被定位成且可操作为使用电磁辐射来照明定位在所述设备的测量区域中的所述膜的第一侧；第一偏振器，定位在所述第一发射器和所述膜的所述第一侧之间，使得由所述第一发射器发射的电磁辐射的至少一部分从中穿过；第一检测器，定位在所述膜的第二侧上，且可操作为接收来自所述发射器的透射穿过所述膜并以所述第一角度以及所述第二角度和所述第三角度中的至少一个从所述膜的所述第二侧透射的电磁辐射；第二偏振器，定位在所述膜的所述第二侧和所述第一检测器之间，使得透射穿过所述膜的电磁辐射的至少一部分从中穿过，其中所述第一检测器可操作为输出信号，所述信号表示基于以所述第一角度以及所述第二角度和所述第三角度中的至少一个从所述膜的所述第二侧透射的电磁辐射所测得的所述第一效应。

5.根据权利要求4所述的设备，其中所述第一检测器可相对于所述膜的所述第二侧移动成定位在第一位置处，以接收来自所述发射器的透射穿过所述膜并以所述第一角度从所述膜的所述第二侧透射的电磁辐射，且可进一步移动到第二位置和/或第三位置，以接收来自所述发射器的透射穿过所述膜并以相应的所述第二角度和/或所述第三角度从所述膜的所述第二侧透射的电磁辐射。

6.根据权利要求4所述的设备，进一步包括：

第二检测器，定位在所述膜的第二侧上，且可操作为接收来自所述发射器的透射穿过所述膜并以所述第二角度从所述膜的所述第二侧透射的电磁辐射；和/或

第三检测器，定位在所述膜的第二侧上，且可操作为接收来自所述发射器的透射穿过所述膜并以所述第三角度从所述膜的所述第二侧透射的电磁辐射；

其中：

所述第二检测器可操作为输出信号，所述信号表示基于以所述第二角度从所述膜的所述第二侧透射的电磁辐射所测得的所述第一效应；和/或

所述第三检测器可操作为输出信号，所述信号表示基于以所述第三角度从所述膜的所述第二侧透射的电磁辐射所测得的所述第一效应。

7.根据前述权利要求中的任一项所述的设备，其中所述第一角度包括以下各项中的一个：(i)由关于所述膜的向量[101]所描述的角度；和(ii)由关于所述膜的向量[111]所描述的角度。

8.根据权利要求7、前述权利要求中的任一项所述的设备，其中所述第二角度包括以下各项中的另一个：(i)由关于所述膜的向量[101]所描述的角度；和(ii)由关于所述膜的向量[111]所描述的角度。

9.根据权利要求4到8中的任一项所述的设备，其中由所述第一检测器输出的输出信号与接收到的透射电磁辐射的强度成比例。

10.根据权利要求9所述的设备，其中所述第一检测器可操作为将所述输出信号传达给处理器，所述处理器可操作为将表示从所述第一角度测得的所述第一效应的所述输出信号的值与表示指定的第一效应的所述值或值范围相比较，所述指定的第一效应对应于真实聚合物膜针对所述第一角度的预定双折射率特性。