[发明专利]基膜

说明书

技术领域

本申请涉及一种基膜、积层体以及制备偏光膜的方法。

背景技术

将二色性材料吸附或定向在聚乙烯醇类树脂(以下称作“PVA树脂”)层中来制备偏光膜的方法是众所周知的。偏光膜通常被用于显示器，例如液晶显示器(LCD)。例如，通常厚度为约60μm至80μm的PVA树脂类偏光膜被粘贴到LCD液晶面板的两面。

PVA树脂是亲水性的。因此，偏光膜对温度或湿度的变化敏感，容易膨胀、收缩，并且容易导致所谓卷曲的缺陷。因此，为了抑制膨胀、收缩以及减少温度和湿度的影响，通常把保护膜粘贴到PVA树脂偏光膜的两面。然而，当偏光膜较厚时则不容易抑制膨胀、收缩，并且当偏光膜被粘贴到液晶面板等时会引起应力，该应力导致在屏幕上产生污渍等。此外，近来随着对薄型设备或低耗能设备需求增加，对更薄的偏光膜的需求也在增加。

例如，专利文件1等公开有制备薄偏光膜的方法。

现有技术文件

专利文件

专利文件1：韩国专利第1175700号。

发明内容

发明目的

本申请提供一种基膜，积层体以及制备偏光膜的方法。

技术方案

本申请涉及一种基膜。一种示例的基膜，例如，可以是一种在延伸能显示偏光功能的材料例如PVA树脂的处理中使用的膜(以下称作“可延伸膜”或“可延伸基膜”)。在上面的描述中，如图1所示，例如，当把包含由于延伸而能显出偏光功能的材料(以下称作“可偏光材料”)的层102(以下称作“可偏光材料层”)层合于基膜101的任一表面或两个表面上而制备积层体100时，可以进行该延伸处理以延伸该积层体。

为了有效进行这样的延伸处理并得到高功能的薄偏光膜，可以在考虑到被共同延伸的可偏光材料层的性能下确定基膜的性能。

基膜的性能可以包括，例如，可以通过拉伸试验而测定的各种物理性质。通常，拉伸试验所确定的伸长曲线可以被划分为显示所施加的负载与伸长度(伸长，mm)之间关系的负载-伸长曲线以及显示工程应力与工程应变之间关系的应力-应变曲线。除非另外具体定义，否则在本说明书中所定义的性能可以为在后者曲线中，即，显示工程应力与工程应变之间关系的应力-应变曲线中所确定的性能。

在本申请中，通过下面的方法说明伸长曲线。首先，将待测伸长曲线的样本制备成横向长度为15mm、纵向长度为70mm的样本。样本的横向长度和纵向长度是用于延伸的长度，排除了固定于拉伸试验机的部分。接着，将样本固定于拉伸试验机中，在室温以约300mm/min的拉伸速度在纵向方向上拉伸直到样本断裂为止，然后图示出到该样本断裂为止的距离对所测定的力的图(X轴：距离，Y轴：力)。接着，应用样本的面积与厚度，将该图转换为伸长率对拉伸强度的图(X轴：伸长率，Y轴：拉伸强度)，待描述的各拉伸性能可以根据该转换的图来测定。在本说明书中，术语“室温”是非人为提高或降低的自然温度，可以指约10℃至30℃、约25℃、或约23℃的温度。同样，当在本说明书中定义物理性质时，除非另外具体定义，否则该物理性质对应于室温下测得的物理性质。

例如，在基膜中，为了防止可偏光材料在延伸后因收缩而引起的缺陷(以下会描述)，该基膜需要满足下述式1。

[式1]

E/R≥5，

在式1中，E为室温下测定的可延伸基膜的伸长率(单位：％)，R为恢复率(单位：％)。在上面的描述中，可以从伸长曲线得到伸长率，该伸长曲线是通过在测量温度下进行上述拉伸试验而得到的。

此外，在上面的描述中，恢复率的测定是通过将宽度和长度与基膜相同而厚度为30μm的聚乙烯醇膜粘贴到被切成宽度为50mm、长度为100mm的基膜的表面而制备的积层体在水(温度：60℃)中在长度方向上延伸5倍，从水中取出该积层体，除去聚乙烯醇膜，然后将该积层体在室温保持1小时，测定该基膜在长度方向上的长度(T)，然后将所测得的值(T)代入式“100×(T-A)/A”。在所述式中，A为延伸前的基膜的长度。