[发明专利]贴合晶圆的制造方法在审
申请号: | 201480032979.9 | 申请日: | 2014-05-19 |
公开(公告)号: | CN105283943A | 公开(公告)日: | 2016-01-27 |
发明(设计)人: | 小林德弘;阿贺浩司 | 申请(专利权)人: | 信越半导体株式会社 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/265;H01L27/12 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 谢顺星;张晶 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 贴合 制造 方法 | ||
1.一种贴合晶圆的制造方法,其向接合晶圆的表面离子注入氢离子和稀有气体离子的至少一种气体离子而形成离子注入层,将所述接合晶圆的离子注入后的表面与基底晶圆的表面直接贴合或隔着绝缘膜贴合之后,施加热处理,在所述离子注入层使所述接合晶圆的一部分剥离,由此制作在所述基底晶圆上具有薄膜的贴合晶圆,其特征在于,
作为所述接合晶圆和/或所述基底晶圆,使用对剥离晶圆进行伴有减厚的再生加工而得的再生晶圆,该剥离晶圆是在所述贴合晶圆的制造方法中制作贴合晶圆时的副产物,
所述再生晶圆是作为所述伴有减厚的再生加工,进行5μm以上的减厚而得的晶圆,
所述接合晶圆及所述基底晶圆由单晶硅晶圆构成,
在将所述将接合晶圆与基底晶圆贴合之前,测量所述接合晶圆和所述基底晶圆的厚度,选择两晶圆的厚度之差小于5μm的由所述接合晶圆与所述基底晶圆构成的组合来进行贴合。
2.如权利要求1所述的贴合晶圆的制造方法,其特征在于,所述再生晶圆是进行两次以上所述伴有减厚的再生加工而得的晶圆。
3.如权利要求1或2所述的贴合晶圆的制造方法,其特征在于,所述绝缘膜由氧化硅薄膜构成,所述薄膜是SOI层。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于信越半导体株式会社,未经信越半导体株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201480032979.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造