[发明专利]用于监控功率半导体开关的装置和方法

权利要求书

1.一种用于监控功率半导体开关(10)的装置，其特征在于，所述装置具有：

-用于对所述功率半导体开关(10)加载具有在所述功率半导体开关(10)的开关阈值之上的频率的高频电压(U_HF)的部件，

-用于检测基于对所述功率半导体开关(10)加载所述高频电压(U_HF)而得出的高频电流的部件，和

-用于将所述得出的高频电流与根据所述功率半导体开关(10)的开关状态基于对所述功率半导体开关(10)加载所述高频电压(U_HF)而期望的高频电流进行比较的部件，以及

-用于取决于比较的结果产生功率半导体状态信号(66)的部件，其中，所述用于取决于比较的结果产生功率半导体状态信号(66)的部件确定所述得出的高频电流与所述期望的高频电流之间的一致性或在预定的或能预定的容差范围之内的一致性时，在输出端处发送正常信号，并且当所述得出的高频电流与所述期望的高频电流之间不存在一致性时，所述用于取决于比较的结果产生功率半导体状态信号(66)的部件在所述输出端处发送故障信号，其中，由第一定义的信号电平和第二定义的信号电平作为所述正常信号和所述故障信号，从而在所述输出端处提供的信号被处理为二进制信号。

2.根据权利要求1所述的用于监控功率半导体开关(10)的装置，其特征在于，具有高频电压源(32)和串联的去耦合电容器(34)的电路部分(30)作为用于对所述功率半导体开关(10)加载具有在所述功率半导体开关(10)的开关阈值之上的频率的高频电压(U_HF)的部件起作用。

3.根据权利要求1或2所述的用于监控功率半导体开关(10)的装置，其特征在于，分流电阻(36)作为用于检测基于对所述功率半导体开关(10)加载所述高频电压(U_HF)而得出的高频电流的部件起作用。

4.根据权利要求1或2所述的用于监控功率半导体开关(10)的装置，其特征在于，具有高频电流实际值测定装置(46)、高频电流额定值测定装置(50)和比较器(48)的监控电路(40)作为用于将所述得出的高频电流与根据所述功率半导体开关(10)的开关状态基于对所述功率半导体开关(10)加载所述高频电压(U_HF)而期望的高频电流进行比较的部件起作用。

5.根据权利要求3所述的用于监控功率半导体开关(10)的装置，其特征在于，具有高频电流实际值测定装置(46)、高频电流额定值测定装置(50)和比较器(48)的监控电路(40)作为用于将所述得出的高频电流与根据所述功率半导体开关(10)的开关状态基于对所述功率半导体开关(10)加载所述高频电压(U_HF)而期望的高频电流进行比较的部件起作用。

6.根据权利要求4所述的用于监控功率半导体开关(10)的装置，其特征在于，所述高频电流额定值测定装置(50)具有第一存储位置和第二存储位置，其中在所述第一存储位置存有用于在所述功率半导体开关(10)的第一开关状态中期望的高频电流的大小，并且在所述第二存储位置存有用于在所述功率半导体开关(10)的第二开关状态中期望的高频电流的大小，并且其中所述第一存储位置或者所述第二存储位置能够取决于能输送给所述功率半导体开关(10)的驱控信号(62)来选择。

7.根据权利要求5所述的用于监控功率半导体开关(10)的装置，其特征在于，所述高频电流额定值测定装置(50)具有第一存储位置和第二存储位置，其中在所述第一存储位置存有用于在所述功率半导体开关(10)的第一开关状态中期望的高频电流的大小，并且在所述第二存储位置存有用于在所述功率半导体开关(10)的第二开关状态中期望的高频电流的大小，并且其中所述第一存储位置或者所述第二存储位置能够取决于能输送给所述功率半导体开关(10)的驱控信号(62)来选择。