[发明专利]放射线检测单元的制造方法有效

专利信息
申请号: 201480034591.2 申请日: 2014-03-31
公开(公告)号: CN105338903B 公开(公告)日: 2018-08-31
发明(设计)人: 名仓圭介;松岛健人;杉谷光俊 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;G01T7/00
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 杨琦
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 放射线 检测 单元 制造 方法
【说明书】:

在放射线检测单元的制造方法中,在第1工序中,使第1放射线检测模块的侧部碰到第1突起,在第2工序中,在第1工序之后,将第2放射线检测模块配置于第1突起被拆除了的区域内并且使第2放射线检测模块的侧部碰到第2突起,在第3工序中,分别使第1放射线检测模块的安装部以及第2放射线检测模块的安装部与框架相对并且从框架分开,而分别将第1放射线检测模块以及第2放射线检测模块安装于框架。

技术领域

本发明涉及CT(Computed Tomography(计算机断层扫描))装置用的放射线检测单元的制造方法。

背景技术

一直以来,已知有具备多个检测X射线等的放射线的放射线检测模块的放射线检测单元(例如参照专利文献1)。在专利文献1中记载有具备多个检测器模块的检测器组件。该检测器组件具备上述的多个检测器模块、沿着通道(channel)方向的圆弧状的基准支撑脊骨。多个检测器模块沿着通道方向被安装于基准支撑脊骨。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特表平9-508305号公报

发明内容

发明所要解决的课题

在上述那样的放射线检测单元中,为了提高放射线的检测精度而期望提高放射线检测模块的位置精度。另外,在放射线检测单元中,为了提高分辨率而期望降低放射线检测模块彼此之间的间隔。

本发明是为了解决这样的课题而完成的发明,其目的在于,提供一种能够提高放射线检测模块的位置精度并且能够降低放射线检测模块彼此之间的间隔的放射线检测单元的制造方法。

解决课题的技术手段

本发明的一个方面的放射线检测单元的制造方法是具备检测放射线的第1放射线检测模块以及第2放射线检测模块、分别支撑第1放射线检测模块以及第2放射线检测模块的框架,第1放射线检测模块以及第2放射线检测模块分别具有入射放射线的入射面、位于入射面的相反侧的安装部、在垂直于入射面的法线的方向上露出的侧部的CT装置用的放射线检测单元的制造方法,使用具有基准面、从基准面突出的第1突起以及从基准面突出的第2突起并且第1突起能够装卸的夹具,具备:第1工序,使第1放射线检测模块的入射面抵接于夹具的基准面并对第1放射线检测模块进行定位;第2工序,使第2放射线检测模块的入射面抵接于夹具的基准面并对第2放射线检测模块进行定位;第3工序,分别将第1放射线检测模块以及第2放射线检测模块安装于框架;在第1工序中,使第1放射线检测模块的侧部碰到第1突起,在第2工序中,在第1工序之后,将第2放射线检测模块配置于第1突起被拆除了的区域内并且使第2放射线检测模块的侧部碰到第2突起,在第3工序中,分别使第1放射线检测模块的安装部以及第2放射线检测模块的安装部与框架相对并且从框架分开,而分别将第1放射线检测模块以及第2放射线检测模块安装于框架。

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