[发明专利]用于制造多个结构的工艺有效
申请号: | 201480034615.4 | 申请日: | 2014-06-11 |
公开(公告)号: | CN105324840B | 公开(公告)日: | 2018-11-27 |
发明(设计)人: | D·朗德吕;O·科农丘克;C·古德尔;C·达维德;S·穆热尔;X·施奈德 | 申请(专利权)人: | SOITEC公司 |
主分类号: | H01L21/762 | 分类号: | H01L21/762 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 制造 结构 工艺 | ||
1.一种用于制造多个结构(S)的工艺,所述多个结构各相继包括衬底、包括氧化物的电介质以及包括半导体材料的有源层,所述工艺包括下列步骤:
a)提供适于接收多个结构(S)的腔室(10),
b)使气体流(F)在腔室(10)中循环,使得腔室(10)具有非氧化性气氛,
c)在高于阈值的温度下对多个结构(S)进行热处理,在高于阈值的温度下,电介质的氧化物中存在的氧扩散通过有源层,与有源层的半导体材料反应,并生成挥发性材料,
所述工艺的特征在于:
步骤b)和步骤c)进行为使得气体流(F)在多个结构(S)之间的循环的记为Vf的速率大于挥发性材料扩散进入气体流的记为Vd的速率,其中Vf/Vd≥100;
步骤b)进行为使得气体流(F)在每个结构(S)的有源层附近循环。
2.根据权利要求1所述的工艺,其特征在于,步骤b)和步骤c)进行为使得Vf/Vd≥1000。
3.根据权利要求1所述的工艺,其特征在于,在步骤a)中提供的腔室(10)沿着纵向轴线(Z’-Z)延伸,步骤b)包括将气体流(F)注入到腔室(10)中,注入的方向平行于纵向轴线(Z’-Z),并且步骤a)包括为腔室(10)配备导引装置的步骤,该导引装置布置为将注入的气体流(F)导引到每个结构(S)的有源层附近。
4.根据权利要求3所述的工艺,其特征在于,所述导引装置包括鳍(50),所述鳍定位为围绕腔室(10)的周界。
5.根据权利要求1所述的工艺,其特征在于,在步骤a)中提供的腔室(10)沿着纵向轴线(Z’-Z)延伸,而步骤b)包括将气体流(F)注入到腔室(10)中,该注入的方向平行于纵向轴线(Z’-Z),且步骤a)包括为腔室(10)配备支撑构件(40)的步骤,该支撑构件布置为对多个结构(S)进行支撑,并且该支撑构件(40)能够相对于腔室(10)绕纵向轴线(Z’-Z)旋转运动,使得气体流(F)在每个结构(S)的有源层附近循环。
6.根据权利要求5所述的工艺,其特征在于,结构(S)的支撑构件(40)形成部分地围绕纵向轴线(Z’-Z)的螺旋,结构(S)的每个支撑构件(40)形成该螺旋的叶片。
7.根据权利要求1所述的工艺,其特征在于,在步骤a)中提供的腔室(10)沿着纵向轴线(Z’-Z)延伸,步骤b)包括将气体流(F)注入到腔室(10)中,该注入的方向垂直于纵向轴线(Z’-Z)并且朝向每个结构(S),使得气体流(F)在每个结构(S)的有源层附近循环。
8.根据权利要求7所述的工艺,其特征在于,所述工艺包括将在每个结构(S)的有源层附近循环的气体流(F)排出的步骤,气体流(F)从腔室(10)排出的方向垂直于纵向轴线(Z’-Z)。
9.根据权利要求1所述的工艺,其特征在于,步骤b)包括将气体流(F)注入到腔室(10)中的步骤,该注入指向每个结构(S)的中心。
10.根据权利要求9所述的工艺,其特征在于,步骤a)包括为腔室(10)配备支撑构件(40)的步骤,该支撑构件布置为对多个结构(S)进行支撑,支撑构件(40)形成了导管(20),该导管布置为将注入的气体流(F)导引到结构(S)的中心。
11.根据权利要求1至10中的任一项所述的工艺,其特征在于,所述工艺包括将气体流(F)从腔室(10)排出的步骤,排出的气体流(F)的一部分再次注入到腔室(10)中。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造