[发明专利]用于制造多个结构的工艺有效

专利信息
申请号: 201480034615.4 申请日: 2014-06-11
公开(公告)号: CN105324840B 公开(公告)日: 2018-11-27
发明(设计)人: D·朗德吕;O·科农丘克;C·古德尔;C·达维德;S·穆热尔;X·施奈德 申请(专利权)人: SOITEC公司
主分类号: H01L21/762 分类号: H01L21/762
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要:
搜索关键词: 用于 制造 结构 工艺
【权利要求书】:

1.一种用于制造多个结构(S)的工艺,所述多个结构各相继包括衬底、包括氧化物的电介质以及包括半导体材料的有源层,所述工艺包括下列步骤:

a)提供适于接收多个结构(S)的腔室(10),

b)使气体流(F)在腔室(10)中循环,使得腔室(10)具有非氧化性气氛,

c)在高于阈值的温度下对多个结构(S)进行热处理,在高于阈值的温度下,电介质的氧化物中存在的氧扩散通过有源层,与有源层的半导体材料反应,并生成挥发性材料,

所述工艺的特征在于:

步骤b)和步骤c)进行为使得气体流(F)在多个结构(S)之间的循环的记为Vf的速率大于挥发性材料扩散进入气体流的记为Vd的速率,其中Vf/Vd≥100;

步骤b)进行为使得气体流(F)在每个结构(S)的有源层附近循环。

2.根据权利要求1所述的工艺,其特征在于,步骤b)和步骤c)进行为使得Vf/Vd≥1000。

3.根据权利要求1所述的工艺,其特征在于,在步骤a)中提供的腔室(10)沿着纵向轴线(Z’-Z)延伸,步骤b)包括将气体流(F)注入到腔室(10)中,注入的方向平行于纵向轴线(Z’-Z),并且步骤a)包括为腔室(10)配备导引装置的步骤,该导引装置布置为将注入的气体流(F)导引到每个结构(S)的有源层附近。

4.根据权利要求3所述的工艺,其特征在于,所述导引装置包括鳍(50),所述鳍定位为围绕腔室(10)的周界。

5.根据权利要求1所述的工艺,其特征在于,在步骤a)中提供的腔室(10)沿着纵向轴线(Z’-Z)延伸,而步骤b)包括将气体流(F)注入到腔室(10)中,该注入的方向平行于纵向轴线(Z’-Z),且步骤a)包括为腔室(10)配备支撑构件(40)的步骤,该支撑构件布置为对多个结构(S)进行支撑,并且该支撑构件(40)能够相对于腔室(10)绕纵向轴线(Z’-Z)旋转运动,使得气体流(F)在每个结构(S)的有源层附近循环。

6.根据权利要求5所述的工艺,其特征在于,结构(S)的支撑构件(40)形成部分地围绕纵向轴线(Z’-Z)的螺旋,结构(S)的每个支撑构件(40)形成该螺旋的叶片。

7.根据权利要求1所述的工艺,其特征在于,在步骤a)中提供的腔室(10)沿着纵向轴线(Z’-Z)延伸,步骤b)包括将气体流(F)注入到腔室(10)中,该注入的方向垂直于纵向轴线(Z’-Z)并且朝向每个结构(S),使得气体流(F)在每个结构(S)的有源层附近循环。

8.根据权利要求7所述的工艺,其特征在于,所述工艺包括将在每个结构(S)的有源层附近循环的气体流(F)排出的步骤,气体流(F)从腔室(10)排出的方向垂直于纵向轴线(Z’-Z)。

9.根据权利要求1所述的工艺,其特征在于,步骤b)包括将气体流(F)注入到腔室(10)中的步骤,该注入指向每个结构(S)的中心。

10.根据权利要求9所述的工艺,其特征在于,步骤a)包括为腔室(10)配备支撑构件(40)的步骤,该支撑构件布置为对多个结构(S)进行支撑,支撑构件(40)形成了导管(20),该导管布置为将注入的气体流(F)导引到结构(S)的中心。

11.根据权利要求1至10中的任一项所述的工艺,其特征在于,所述工艺包括将气体流(F)从腔室(10)排出的步骤,排出的气体流(F)的一部分再次注入到腔室(10)中。

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