[发明专利]聚碳酸酯树脂组合物和使用聚碳酸酯树脂组合物得到的荧光检测分析基板

权利要求书

1.一种聚碳酸酯树脂组合物，其特征在于：

含有通过界面聚合法合成的聚碳酸酯树脂，在由波长290nm的光激发得到的荧光发光中，在将波长310nm、400nm、450nm的荧光发光强度分别设为F(310)、F(400)、F(450)时，满足下式(1)：

|{F(310)-F(450)}/{F(400)-F(450)}|≥40式(1)。

2.一种聚碳酸酯树脂制荧光检测分析基板，其特征在于：

含有权利要求1所述的所述聚碳酸酯树脂组合物。

3.如权利要求2所述的聚碳酸酯树脂制荧光检测分析基板，其特征在于：

在将所述荧光检测分析基板进行碱性水解后得到的分解物中，下式(A)所示的化合物和下式(B)的合计含量为5重量ppm以下。

4.如权利要求3所述的聚碳酸酯树脂制荧光检测分析基板，其特征在于：

在将所述荧光检测分析基板进行碱性水解后得到的分解物中，上述式(A)和上述式(B)所示的化合物的合计含量为3重量ppm以下。

5.如权利要求2～4中任一项所述的聚碳酸酯树脂制荧光检测分析基板，其特征在于：

通过界面聚合法得到的聚碳酸酯树脂为粉体和微粒，所述聚碳酸酯树脂制荧光检测分析基板通过所述粉体和微粒的熔融成型工序来制造。

6.如权利要求5所述的聚碳酸酯树脂制荧光检测分析基板，其特征在于：

使用筛选出的微粒来制造，所述筛选出的微粒通过从所述粉体和微粒去除微粉的微粒筛选工序得到，具有500μm以上粒径的微粒的含量为90重量％以上。

7.如权利要求6所述的聚碳酸酯树脂制荧光检测分析基板，其特征在于：

使用在所述微粒筛选工序中利用风力从所述粉体和微粒得到的所述筛选出的微粒来制造。

8.如权利要求6或7所述的聚碳酸酯树脂制荧光检测分析基板，其特征在于：

使用除去在送风装置的作用下漂浮的所述微粉而得到的所述筛选出的微粒来制造。

9.如权利要求6所述的聚碳酸酯树脂制荧光检测分析基板，其特征在于：

使用在所述微粒筛选工序中利用筛子从所述粉体和微粒得到的所述筛选出的微粒来制造。

10.如权利要求7或8所述的聚碳酸酯树脂制荧光检测分析基板，其特征在于：

使用在所述微粒筛选工序中进一步利用筛子从所述粉体和微粒得到的所述筛选出的微粒来制造。

11.如权利要求9或10所述的聚碳酸酯树脂制荧光检测分析基板，其特征在于：

使用在使所述筛子振动的状态下除去所述微粉而得到的所述筛选出的微粒来制造。

12.如权利要求6～11中任一项所述的聚碳酸酯树脂制荧光检测分析基板，其特征在于：

使用溶液YI值为1.30以下的所述筛选出的微粒来制造。

13.如权利要求5～12中任一项所述的聚碳酸酯树脂制荧光检测分析基板，其特征在于：

通过在熔融成型前进行干燥并使含水率为200ppm以下的所述聚碳酸酯粉体和微粒来制造。

14.如权利要求5～13中任一项所述的聚碳酸酯树脂制荧光检测分析基板，其特征在于：

在所述熔融成型工序中，在通过添加不活泼气体和/或进行减压而使氧浓度成为10000ppm以下的氛围下将所述筛选出的微粒进行熔融成型来制造。

15.如权利要求5～14中任一项所述的聚碳酸酯树脂制荧光检测分析基板，其特征在于：

所述熔融成型工序为注射成型工序。