[发明专利]用于测量电磁性能的设备和方法

权利要求书

1.一种用于确定兴趣区域的电磁性能的设备，包括：

至少一个测量接口，用于接收与所述兴趣区域相对应的一个或多个电感测量和与所述兴趣区域相对应的一个或多个电容测量；以及

信号处理器，通信耦接至所述至少一个测量接口，并且被布置为至少基于接收到的所述一个或多个电感测量获得导电率的估计并且至少使用所述导电率的估计和接收到的所述一个或多个电容测量确定电容率测量。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述信号处理器被布置为使用所述一个或多个电感测量校准所述一个或多个电容测量。

3.根据权利要求1或权利要求2所述的设备，其中，所述信号处理器被布置为确定所述兴趣区域的多个子区域的导电率的估计并且确定与所述电容测量相关联的雅可比矩阵，基于该导电率的估计补偿所述雅可比矩阵。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的设备，包括：

拓扑处理器，通信耦接至所述信号处理器并且被布置为在所述兴趣区域中映射一个或多个电磁性能的空间分布。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的设备，其中，所述信号处理器被布置为基于与所述兴趣区域相对应的所述一个或多个电感测量和与所述兴趣区域相对应的所述一个或多个电容测量中的至少一个来输出对于导电率、磁导率、电容率和复阻抗中的一个或多个的测量。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的设备，包括：

一个或多个第一传感器元件，电气耦接至所述至少一个测量接口，至少一个第一传感器元件被布置为在施加第一信号时提供与最接近所述设备的兴趣区域相对应的电感测量；以及

一个或多个第二传感器元件，电气耦接至所述至少一个测量接口，至少一个第二传感器元件被布置为在施加第二信号时提供与所述最接近所述设备的兴趣区域相对应的电容测量。

7.根据权利要求6所述的设备，包括：

信号控制器，被布置为进行以下操作的一个或多个：

将所述第一信号供应给所述一个或多个第一传感器元件，其中，在测量阶段期间，至少一个第一传感器元件传输所述第一信号并且记录来自至少一个其它第一传感器元件的一个或多个电感测量；并且

将所述第二信号供应给所述一个或多个第二传感器元件，其中，在测量阶段期间，至少一个第二传感器元件传输所述第二信号并且记录来自至少一个其它第二传感器元件的一个或多个电容测量。

8.根据权利要求7所述的设备，其中，所述信号控制器被布置为进行以下操作中的一个或多个：

将所述第一信号依次供应给每一个第一传感器元件，在多个第一传感器元件中的其它第一传感器元件的组被用于提供多个电感测量；并且

将所述第二信号依次供应给每一个第二传感器元件，在多个第二传感器元件中的其它第二传感器元件的组被用于提供多个电容测量。

9.根据权利要求7或权利要求8所述的设备，其中，所述信号控制器被布置为将所述第一信号和所述第二信号传送至所述信号处理器并且所述信号处理器被布置为在确定所述兴趣区域的一个或多个电磁性能时使用所述信号。

10.根据权利要求6至9中任一项所述的设备，其中，所述第一信号和所述第二信号中的一个或多个包括至少一个频率分量。

11.根据权利要求6至10中任一项所述的设备，其中，所述多个第一传感器元件和所述多个第二传感器元件中的一个或多个被布置为提供多个电压测量。

12.根据权利要求6至11中任一项所述的设备，其中，所述第一传感器元件与所述第二传感器元件交错。

13.根据权利要求6至11中任一项所述的设备，其中，所述第一传感器元件和所述第二传感器元件被组合在公共电极布置中。

14.根据权利要求6至13中任一项所述的设备，其中，所述多个第一传感器元件和所述多个第二传感器元件中的一个或多个被布置在一个或多个对应的平面阵列中。

15.根据权利要求6至14中任一项所述的设备，其中，所述多个第一传感器元件和所述多个第二传感器元件通过绝缘体与所述兴趣区域电气隔离。

16.根据权利要求1至15中任一项所述的设备，其中，所述信号处理器被布置为使用所述电容率测量来获得导电率的后续估计。