[发明专利]测量方法、测量装置以及计算机可读记录介质有效
申请号: | 201480039982.3 | 申请日: | 2014-06-30 |
公开(公告)号: | CN105593635B | 公开(公告)日: | 2020-04-10 |
发明(设计)人: | 森本吉春;柾谷明大;高木哲史 | 申请(专利权)人: | 4维传感器有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/16 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 范胜杰;曹鑫 |
地址: | 日本和*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量方法 测量 装置 以及 计算机 可读 记录 介质 | ||
1.一种测量方法,根据通过照相机拍摄物体面的二维格子像而得的二维 格子拍摄像,测量物体面的位移,该测量方法的特征在于,具有如下工序:
在使照相机像素的方向与位移前的所述二维格子拍摄像对应,并且使所述 二维格子拍摄像中的x方向的1个周期与照相机的Nx个像素对应,使y方向 的1个周期与照相机的Ny个像素对应的状态下,通过照相机拍摄物体面的二 维格子像,得到二维格子拍摄像的工序,其中,Nx是大于2的整数,Ny是大 于2的整数;
根据所述二维格子拍摄像,在所述二维格子拍摄像中,针对相当于所述格 子的1个周期的x方向和y方向的频率得到其相位的工序;以及
根据该相位求出物体面的位移的工序。
2.根据权利要求1所述的测量方法,其特征在于,
该测量方法包括:针对所述二维格子拍摄像在x方向进行Nx像素的平滑 化的工序,或在y方向进行Ny像素的平滑化的工序,使得看不到x方向或y 方向中的任意一方的格子线。
3.一种测量装置,其特征在于,
进行所述权利要求1或2所述的测量方法。
4.一种测量程序,根据通过照相机拍摄物体面的二维格子像而得的二维 格子拍摄像,测量物体面的位移,其特征在于,
用于使计算机执行如下步骤:
输入位移前的二维格子拍摄像的步骤;
在所述二维格子拍摄像中,根据相当于格子的x方向和y方向的1个周期 的Nx×Ny像素的图像数据,针对在所述二维格子拍摄像中与所述格子的1个 周期对应的x方向和y方向的频率得到其相位的步骤;以及
根据所述相位求出物体面的位移的步骤。
5.一种计算机可读记录介质,其特征在于,
记录有所述权利要求4所述的测量程序。
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