[发明专利]混合式(谱/非谱)成像探测器阵列和对应的处理电子设备有效
申请号: | 201480041115.3 | 申请日: | 2014-07-04 |
公开(公告)号: | CN105408940B | 公开(公告)日: | 2019-09-03 |
发明(设计)人: | R·普罗克绍 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | G06T11/00 | 分类号: | G06T11/00;A61B6/00;G01T1/29 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 李光颖;王英 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 混合式 成像 探测器 阵列 对应 处理 电子设备 | ||
1.一种成像系统(100),包括:
探测器阵列(110),其探测穿过检查区域的辐射,所述探测器阵列包括:
至少非谱探测器(112)的集合,其探测穿过所述检查区域的所述辐射的第一子部分,并且生成指示所述第一子部分的第一信号;
至少谱探测器(114)的集合,其探测穿过所述检查区域的所述辐射的第二子部分,并且生成指示所述第二子部分的第二信号;
内部区域(116)和第一外部区域,其中,所述内部区域由谱探测器的所述集合的第一部分所占据,所述第一外部区域由谱探测器的所述集合的第二部分所占据;以及
第二外部区域,其由非谱探测器的所述集合所占据;以及
重建器(120),其处理所述第一信号和所述第二信号,生成体积图像数据。
2.如权利要求1所述的系统,谱探测器的所述集合的谱探测器包括:
至少单个闪烁体层(302);以及
至少两个探测器像素(206、208),其中,在穿过入射辐射的方向上,所述至少两个探测器像素被光学地侧向安装到所述至少单个闪烁体。
3.如权利要求1至2中的任一项所述的系统,谱探测器的所述集合的谱探测器包括:
一层在另一层上地堆叠的至少两个闪烁体层(202、204);以及
至少两个探测器像素(206、208),其中,在穿过入射辐射的方向上,所述至少两个探测器像素中的每个分别被光学地侧向安装到所述至少两个闪烁体中的不同的一个。
4.如权利要求1至2中的任一项所述的系统,谱探测器的所述集合的谱探测器包括:
至少两个堆叠的闪烁体层(202、204);以及
至少两个探测器像素(206、208),其中,在入射辐射的方向上,闪烁体层的所述堆叠被设置在所述至少两个探测器像素上方。
5.如权利要求1至2中的任一项所述的系统,所述重建器包括:
非谱重建装置(122),其组合所述第二信号,从而创建非谱信号,并且利用非谱重建算法来处理所述第一信号和所创建的非谱信号,以重建所述体积图像数据。
6.如权利要求1至2中的任一项所述的系统,所述重建器包括:
谱重建器(124),其利用谱重建算法来处理所述第一信号和所述第二信号,从而重建谱体积图像数据。
7.如权利要求6所述的系统,其中,所述谱重建算法是包括物质分解的迭代统计重建算法。
8.如权利要求7所述的系统,其中,所述谱重建算法是对数似然重建算法。
9.如权利要求8所述的系统,其中,所述谱重建算法包括调整项以及具有非谱数据分量和谱数据分量的数据项,每项均为两种或更多种基本物质的函数,并且所述谱重建器在给定噪声模型和调整因子的情况下使中间图像拟合测量数据的似然值最大化。
10.一种方法,包括:
获得指示由成像系统(100)的探测器阵列(110)的非谱探测器(112)的集合探测到的辐射的第一信号;
获得指示由所述成像系统的探测器阵列的谱探测器(114)的集合探测到的辐射的第二信号,其中,谱探测器的所述集合的第一部分和第二部分分别被设置在所述探测器阵列的内部区域(116)和第一外部区域处,并且非谱探测器的所述集合被设置在所述探测器阵列的第二外部区域处;并且
重建所述第一信号和所述第二信号,从而生成至少谱体积图像数据。
11.如权利要求10所述的方法,所述重建包括:
利用包括物质分解的迭代统计重建算法来处理所述第一信号和所述第二信号。
12.如权利要求11所述的方法,其中,所述算法包括调整项以及具有非谱数据分量和谱数据分量的数据项。
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