[发明专利]用于感测的装置有效
申请号: | 201480041191.4 | 申请日: | 2014-07-16 |
公开(公告)号: | CN105393097B | 公开(公告)日: | 2018-12-28 |
发明(设计)人: | A·科利 | 申请(专利权)人: | 恩波顿公司 |
主分类号: | G01J5/10 | 分类号: | G01J5/10;G01J5/08;H01L51/42 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 杨晓光;于静 |
地址: | 芬兰*** | 国省代码: | 芬兰;FI |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 装置 | ||
1.一种装置,包括:
传感器,其被配置为感测电磁辐射,其中所述传感器包括衬底、感测部和石墨烯层,所述感测部包括被放置在所述衬底上的热电材料,所述热电材料被配置为响应于入射的电磁辐射,所述石墨烯层在源接触和漏接触之间延伸,覆盖所述感测部而被放置并且被配置为将所述热电材料的响应转变为输出信号;以及
至少一个天线,其被配置为将所述电磁辐射引导到所述传感器上并且造成所述感测部的局部加热。
2.根据权利要求1所述的装置,其中所述石墨烯层接近所述热电材料而被放置,以便在所述热电材料内的电荷分布中的变化影响由所述石墨烯层提供的输出信号。
3.根据权利要求1或2所述的装置,其中至少一个天线耦合到接触中的至少一个接触。
4.根据权利要求1所述的装置,其中所述至少一个天线包括等离子天线。
5.根据权利要求1所述的装置,其中所述至少一个天线被配置为将来自所述电磁辐射的能量聚集到所述传感器上以放大所述入射的电磁辐射对所述传感器的影响。
6.根据权利要求5所述的装置,其中所述至少一个天线被配置为放大入射辐射对所述热电材料的加热效果。
7.根据权利要求1所述的装置,其中针对所述传感器提供多个天线。
8.根据权利要求7所述的装置,其中所述多个天线具有不同的谐振波长。
9.根据权利要求1所述的装置,其中至少一个天线被配置为具有在电磁光谱的红外区域中的谐振波长。
10.一种包括多个如权利要求1至9中的任何一项所述的装置的设备。
11.根据权利要求10所述的设备,其中不同的装置包括被配置为具有不同谐振波长的天线。
12.一种包括多个如权利要求1至9中的任何一项所述的装置的热成像设备。
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