[发明专利]旋转速度检测装置、使用该装置的粘度测定装置、旋转速度检测方法以及用在该方法中的旋转体有效
申请号: | 201480041228.3 | 申请日: | 2014-07-01 |
公开(公告)号: | CN105393123B | 公开(公告)日: | 2019-05-07 |
发明(设计)人: | 保田正范;酒井启司 | 申请(专利权)人: | 京都电子工业株式会社 |
主分类号: | G01P3/80 | 分类号: | G01P3/80;G01N11/14;G01P3/36 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 薛凯 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 旋转 速度 检测 装置 使用 粘度 测定 方法 以及 中的 旋转体 | ||
1.一种旋转速度检测装置,具有:
旋转体;
对该旋转体照射激光的照射部;
接受从该照射部照射到所述旋转体而反射的、形成了光斑图案的光的受光部;
取得由该受光部接受到的受光数据的受光数据取得部;和
基于由该受光数据取得部取得的受光数据来运算所述旋转体的旋转速度的旋转速度运算部,
其中,所述旋转体是放入由能透光的透明或半透明的材质构成的容器中的、具有比该容器的底部内面的曲率半径小的曲率半径的球体,在其旋转面具有不规则的凹凸部,
所述照射部配置得使所述激光的光轴与所述旋转体的旋转轴心大致一致,向以所述旋转轴心为中心的圆形的区域照射所述激光,
所述受光部,由配置成与被照射激光的旋转体的面对置的单一的受光部构成,
所述受光数据取得部,取得受光强度以周期性变动从而所述旋转体每1次旋转时描绘恒定的波形的、在所述凹凸部反射的光的受光数据的时间序列数据,
所述旋转速度运算部根据所述时间序列数据的周期性来运算所述旋转体的旋转速度。
2.根据权利要求1所述的旋转速度检测装置,其中,
所述凹凸部中,相邻的凹部的底部间以及相邻的凸部的顶部间的距离为所述旋转体的最大周长的100分之1以下、且从所述照射部照射的光的波长的10倍以上的长度。
3.根据权利要求1或2所述的旋转速度检测装置,其中,
所述凹凸部通过表面研磨加工被形成在所述旋转体的旋转面。
4.根据权利要求1或2所述的旋转速度检测装置,其中,
所述受光数据取得部取得所述旋转体的旋转1次以上的所述时间序列数据,
所述旋转速度运算部从所述旋转体的旋转1次以上的时间序列数据测定所述旋转体旋转1次所需要的时间,根据该时间来运算所述旋转体的旋转速度。
5.根据权利要求4所述的旋转速度检测装置,其中,
所述受光部具有配设为与被所述照射部照射的所述旋转体的旋转面对置、且在与所述旋转体的旋转方向正交的方向上排列的多个受光元件,
所述受光数据取得部综合评价从所述多个受光元件检测到的受光数据来取得所述时间序列数据。
6.根据权利要求1或2所述的旋转速度检测装置,其中,
所述受光部,将从所述照射部照射到所述旋转体而反射的光,不经由透镜地接受。
7.根据权利要求1或2所述的旋转速度检测装置,其中,
还具有配设在比所述受光部更靠所述旋转体的旋转方向下游侧的下游侧受光部,
所述受光数据取得部同时取得所述受光部以及所述下游侧受光部各自的受光数据的时间序列数据,
所述旋转速度运算部使用以所述受光部和所述下游侧受光部同时取得的各时间序列数据来运算所述旋转体的旋转速度。
8.根据权利要求7所述的旋转速度检测装置,其中,
所述受光数据取得部取得所述旋转体的不足1次旋转的所述时间序列数据,
所述旋转速度运算部根据所述旋转体的不足1次旋转的各时间序列数据、和相对于所述旋转体的旋转轴心的所述受光部以及所述下游侧受光部的配置角度来运算所述旋转体的旋转速度。
9.根据权利要求8所述的旋转速度检测装置,其中,
所述旋转速度检测装置具有:
运算所述配置角度的角度运算部;和
存储以该角度运算部运算出的配置角度的角度存储部,
所述受光数据取得部取得所述旋转体的旋转1次以上的所述受光数据的时间序列数据作为角度运算用的时间序列数据,
所述角度运算部根据所述角度运算用的各时间序列数据来运算所述配置角度,
所述旋转速度运算部使用以所述角度运算部运算并存储于所述角度存储部的配置角度来运算所述旋转体的旋转速度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京都电子工业株式会社,未经京都电子工业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201480041228.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。