[发明专利]使用传播时间测量法确定和监控容器中的介质的料位的方法

权利要求书

1.一种借助现场装置(1)使用传播时间测量法确定和监控容器(5)中的介质(7)的料位(F)的方法，所述方法包括：

朝向所述介质(7)发射发射信号(S)并且接收反射信号(R)；

将所接收的反射信号(R)记录为取决于传播时间(t)或传播距离(x)的回波函数(10)或包络曲线(11)中的回波信号(14)；

借助至少一个滤波器(12)利用滤波参数(FP)对所述回波函数(10)或所述包络曲线(11)进行滤波，

其中，

在所述回波函数(10)中或所述包络曲线(11)中形成至少三个滤波范围(FR₁、FR₂、FR₃)，并且，在先前测量周期中确定的所述回波函数(10)中或所述包络曲线(11)中的有用回波信号(15)的位置(x₁)处至少预先确定具有第一宽度(w₁)的第一滤波范围(FR₁)，

通过所述滤波器(12)利用不同的滤波参数(FP)在所述第一滤波范围(FR₁)、第二滤波范围(FR₂)和第三滤波范围(FR₃)中对所述回波函数(10)或所述包络曲线(11)进行滤波，

所述第二滤波范围(FR₂)和所述第三滤波范围(FR₃)在所述第一滤波范围的前面或者后面邻接，

借助回波搜索算法(13)，在所述回波函数(10)中或所述包络曲线(11)中确定至少一个有用回波信号(15)，并且，

基于所述有用回波信号的位置(x₁)确定所述料位(F)。

2.根据权利要求1所述的方法，

其中，通过所述滤波器(12)单独地在所述第一滤波范围(FR₁)中、在所述第二滤波范围(FR₂)中和/或在所述第三滤波范围(FR₃)中和/或在某些区域中对所述回波函数(10)或所述包络曲线(11)进行滤波。

3.根据权利要求1所述的方法，

其中，借助非对称低通滤波器(12)对所述回波函数(10)或所述包络曲线(11)进行滤波。

4.根据权利要求2所述的方法，

其中，借助非对称低通滤波器(12)对所述回波函数(10)或所述包络曲线(11)进行滤波。

5.根据权利要求1-4中的任意一项所述的方法，

其中，将在先前测量周期中储存的回波函数(10)或包络曲线(11)与当前的回波函数(10)或包络曲线(11)进行平均。

6.根据权利要求1-4中的任意一项所述的方法，

其中，所述滤波范围(FR₁)被预先确定成具有关于所述回波函数(10)或所述包络曲线(11)的所述位置(x₁)对称的宽度(w₁)。

7.根据权利要求1-4中的任意一项所述的方法，

其中，所述滤波范围(FR₁)被预先确定成具有关于所述回波函数(10)或所述包络曲线(11)的所述位置(x₁)非对称的宽度(w₁)。

8.根据权利要求1-4中的任意一项所述的方法，

其中，至少所述滤波范围(FR₁)，即其宽度(w₁)被自适应性地调整以适应所述回波函数(10)中或所述包络曲线(11)中的所述有用回波信号(15)的变化的位置(x₁)。

9.根据权利要求1-4中的任意一项所述的方法，

其中，所述滤波参数(FP)被自适应地匹配于所述回波函数(10)中或所述包络曲线(11)中的所述有用回波信号(15)的变化的位置(x₁)。