[发明专利]确定或预测细胞特征的方法

权利要求书

1.一种预测源自单一亲代宿主细胞群的一组克隆细胞相对分批补料性能的计算机实施方法，该方法包括以下步骤：

-检测每个克隆在存在和不存在至少三种化学细胞应激原分子条件下的生长水平；

-比较每个克隆在存在和不存在至少三种化学细胞应激原分子中的每种化学细胞应激原分子条件下的生长水平，提供每个克隆在每种应激微环境中的标准化生长响应值；

-在计算模型中输入克隆的特异性生长响应指纹，包括每个克隆在每种应激微环境中的标准化生长响应值，其中计算模型是根据分批补料性能已知的一组校正克隆的生长响应指纹建立的，其中计算模型经配置，用于输出每个克隆的预测分批补料性能，预测该组克隆细胞的相对分批补料性能。

2.根据权利要求1所述的计算机实施方法，其中计算模型是多元线性计算模型。

3.根据权利要求1或2所述的计算机实施方法，其中在多孔板的孔中检测每个克隆细胞的生长。

4.根据权利要求1或2所述的计算机实施方法，其中在低于5天的时间内检测每个克隆的生长。

5.根据权利要求1或2所述的计算机实施方法，其中对不存在和存在至少6种化学细胞应激原分子条件下每个克隆的生长水平进行检测。

6.根据权利要求1或2所述的计算机实施方法，其中多元线性计算模型采用最小二乘解将生长响应值与预测分批补料性能拟合。

7.一种计算机实施系统，经配置用于预测源自单一亲代宿主细胞群的一组克隆细胞的相对分批补料性能，该系统包括：

一种检测系统，用于检测每个克隆在存在和不存在多种单一化学应激原条件下的生长水平，提供每个克隆在多种应激微环境中的标准化生长响应值；

一种处理器，用于处理克隆特异性生长响应指纹，包括每个克隆在每种应激微环境中的标准化生长响应值，其中计算模型是根据分批补料性能已知的一组校正克隆的生长响应指纹建立的，其中计算模型经配置，用于输出每个克隆的预测分批补料性能，预测该组克隆细胞的相对分批补料性能，以及

一种装置，用于输出每个克隆的预测分批补料性能，预测该组克隆细胞的相对分批补料性能。

8.根据权利要求7所述的计算机实施系统，其中检测系统包括酶标仪。

9.根据权利要求7或8所述的计算机实施系统，其中计算模型是多元线性计算模型。

10.根据权利要求9所述的计算机实施系统，其中多元线性计算模型采用最小二乘解将参数生长响应值与预测分批补料性能拟合。